专利名称: |
一种双通道探头调节机构及双通道探头水浸高频超声波探伤方法 |
摘要: |
本发明涉及一种双通道探头调节机构及双通道探头水浸高频超声波探伤方法,属于钢材探伤检测设备技术领域。包括第一探头架和第二探头架,所述第一探头架固定于模块上,所述第二探头架通过微调机构与模块活动连接,用于微量调节第二探头架的水平旋转角度;所述第一探头架、第二探头架底部分别通过水平调节机构与对应的第一夹持口和第二夹持口活动连接,所述第一夹持口用于设置第一探头,所述第二夹持口用于设置第二探头。本申请通过2个不同频率的探头同步检测钢中内部宏观缺陷的试验方法来对缺陷定位分析,同时评价钢的内部宏观纯净度;同步实现待测试样的分区检测,减小试样的检测盲区,提高检测准确性,有利于全面快速评价钢内部的纯净度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
江阴兴澄特种钢铁有限公司 |
发明人: |
陆燕婷;许晓红;白云;范海东;钱震;张超;陈晓东;吴军;戚晓光 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-07-04T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-11T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910598601.X |
公开号: |
CN110320283A |
代理机构: |
北京中济纬天专利代理有限公司 |
代理人: |
赵海波 |
分类号: |
G01N29/265(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
申请人地址: |
214429 江苏省无锡市江阴市高新区滨江东路297号 |
主权项: |
1.一种双通道探头调节机构,该机构设置在能够在Z轴方向上升降的模块(1)上,包括第一探头架(3)和第二探头架(4),所述第一探头架(3)固定于模块上,所述第二探头架(4)通过微调机构(2)与模块(1)活动连接,用于微量调节第二探头架(4)的相对Z轴方向的偏转;所述第一探头架(3)、第二探头架(4)底部分别通过水平调节机构(7)与对应的第一夹持口(5)和第二夹持口(6)活动连接,用于调节第一夹持口(5)和第二夹持口(6)在水平方向上的位置,所述第一夹持口(5)用于设置第一探头,所述第二夹持口(6)用于设置第二探头。 2.根据权利要求1所述的一种双通道探头调节机构,其特征在于:所述微调机构(2)包括活动圆盘(2.2)、弹性顶出杆(2.3)、顶出千分杆(2.1)和拨块(2.4),所述活动圆盘(2.2)竖立设置在模块(1)侧面,且活动圆盘可绕其中心轴在竖直面内偏转,所述拨块(2.4)固定在所述活动圆盘(2.2)的边缘,所述弹性顶出杆(2.3)位于拨块(2.4)一侧并始终弹性顶住拨块,所述顶出千分杆位于拨块(2.4)另一侧反向推动拨块(2.4)使反向抵抗弹性顶出杆(2.3)。 3.根据权利要求1所述的一种双通道探头调节机构,其特征在于:所述水平调节机构(7)包括固定块(7.1)、调节块(7.2)和调节螺杆(7.3),所述固定块(7.1)固定于探头架底部,所述调节块(7.2)与夹持口固定连接,所述调节螺杆(7.3)水平设置在固定块(7.1)上,调节螺杆(7.3)与调节块(7.2)螺纹连接,调节块(7.2)能够沿着转动的调节螺杆(7.3)水平位移。 4.基于权利要求1~3中任一所述的一种双通道探头水浸高频超声波探伤方法,其特征在于:所述方法具体包括如下步骤: 步骤一:双通道探头调节机构安装:将双通道探头调节机构设置在水浸高频超声波探伤仪Z轴的模块(1)上,将两个具有不同频率的探头设于第一夹持口(5)和第二夹持口(6)内,并将两个探头与标准UHF接口连接; 步骤二:仪器校准调试:将标样设于高频超声波探伤仪水槽中,调节第一探头和第二探头的入射角度使第一、二探头的入射方向与标样上平底孔相互垂直;通过调节模块(1)在Z轴方向的位置,调节探头与水层距离,使得标样上平底孔缺陷的回波最大;调整增益,确定两个探头的基础dB值; 步骤三:试样热处理并加工:对待探测的圆棒试样进行热处理后,试样表面再进行车皮并磨光,减小检测盲区; 步骤四:试样扫描:将步骤三的圆棒试样设于水浸高频超声波探伤仪水槽的卡盘上,启动双通道模式,对水浸超声波探伤仪进行系统回零,然后调节第一、二探头的入射角度、探头高度;输入试样参数、探伤仪探伤步进速度,使第一、二探头进行同步扫描检测; 步骤五:检测:双探头在扫描结束后会各自形成A、C扫描图;A扫描图中当扫描到夹杂物时声波会发生反射,图中纵坐标反射波高度代表了夹杂物的大小,横坐标代表了夹杂物距试样表面的位置及深度;A扫描图对应的投影图即C扫描图:颜色的深浅代表了反射波高度,横坐标代表了试样展开的情况;纵坐标表示了夹杂物的尺寸大小和数量; 若需要对试样中夹杂物进行定位分析,通过分析软件打开C扫描图,应用探头回位功能移动到夹杂物位置,360°旋转试样,当夹杂物反射回波最大时,在探头垂直正下方的试样表面做好标记,该标记即为表皮上距离夹杂物最近的位置,同时记录好夹杂物大小、数量和分布信息。 5.根据权利要求4所述的一种双通道探头水浸高频超声波探伤方法,其特征在于:所述步骤三中试样长300~600mm、直径30~120mm,且满足光洁度<1.0μm,弯曲度≤2mm/m。 |
所属类别: |
发明专利 |