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原文传递一种用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置

专利名称：	一种用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置
摘要：	本发明公开了一种用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，包括实验箱体、光源供给机构、载物机构、电场供给机构和高光谱设备；光源供给机构包括全波段光源、密闭光罩、反光环和反光片，全波段光源安装在实验箱体的底部中心，反光片安装在所述实验箱体的顶部，载物机构上安装有静电场测试仪，电场供给机构用于对实验箱体内的输电线路提供电场；高光谱设备通过转向机构安装在实验箱体内且悬设于所述载物机构的上方。本发明能够实现不同电压等级电场环境下对线路外绝缘状态和输电走廊植高光谱的全波段检测，有助于为研究人员了解在电场影响下高光谱所得谱线与无电场情况下的异同，为完善电场环境下的高光谱检测提供实验基础。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	西南交通大学
发明人：	张血琴;范超;郭裕钧;刘凯;吴广宁;高国强;李春茂;曹保江
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-14T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201910748970.2
公开号：	CN110376140A
代理机构：	成都正华专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	肖芳
分类号：	G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	610031 四川省成都市二环路北一段
主权项：	1.一种用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：包括实验箱体(1)、光源供给机构(2)、载物机构(3)、电场供给机构(4)和高光谱设备(5)；所述实验箱体(1)的外壳具有吸光层和电磁场屏蔽层；所述光源供给机构(2)包括全波段光源(201)、密闭光罩(202)、反光环(203)和反光片(204)，所述全波段光源(201)安装在所述实验箱体(1)的底部中心，所述反光片(204)安装在所述实验箱体(1)的顶部，所述反光环(203)安装在实验箱体(1)侧壁上且位于所述密闭光罩(202)和反光片(204)之间，所述所述密闭光罩(202)的光路入口与所述波段光源连接，所述密闭光罩(202)的光路出口与所述反光片(204)正向连接；所述载物机构(3)安装在所述光环的下部，所述载物机构(3)上安装有静电场测试仪(6)，用于承载试验样品；所述电场供给机构(4)安装在所述反光环(203)和反光片(204)之间，用于对实验箱体(1)内的输电线路提供电场；所述高光谱设备(5)通过转向机构安装在实验箱体(1)内且悬设于所述载物机构(3)的上方。 2.根据权利要求1所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于，所述光源供给机构(2)的光学路径为：所述全波段光源(201)提供的光源经密闭光罩(202)的光路入口射入，沿光源经密闭光罩(202)的光路出口聚焦到所述反光环(203)上，再经反光片(204)聚焦反射到所述载物机构(3)承载的试验样品上。 3.根据权利要求1所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述电场供给机构(4)包括高压绝缘套管(401)和钢芯铜绞线(402)，所述高压绝缘套管(401)安装在所述实验箱体(1)两侧的侧壁上，所述钢芯铜绞线(402)跨接于实验箱体(1)内且与所述高压绝缘套管(401)连接，所述高压绝缘套管(401)外接电极。 4.根据权利要求1所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述载物机构(3)包括载物台(301)和光学白板(302)，所述光学白板(302)安装于所述载物台(301)上，所述载物台(301)上安装有样品承载机构(7)，所述静电场测试仪(6)安装在所述载物台(301)和光学白板(302)之间的中心位置。 5.根据权利要求1所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述样品承载机构(7)包括基台(8)、试验样品容纳盒(9)和四个滑动安装在所述基台(8)上的支撑台(10)，四个所述的支撑台(10)紧固结构相同且两两对称地安装在所述基台(8)的周侧，所述支撑台(10)上具有紧固机构。 6.根据权利要求5所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述支撑台(10)包括支撑面(1001)、安装部(1002)和定位部(1003)，所述安装部(1002)设于所述支撑面(1001)的一侧，所述定位部(1003)设于所述支撑面(1001)和安装部(1002)之间，所述紧固机构安装在所述安装部(1002)上，所述定位部(1003)开设有通孔(1004)，所述基台(8)的横向和竖向上均设有与所述通孔(1004)配合的定位孔(801)，定位销钉穿过所述通孔(1004)和定位孔(801)将支撑台(10)固定于所述基台(8)上。 7.根据权利要求6所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述紧固机构为螺栓(11)，所述螺栓(11)的顶端穿设所述安装部(1002)，所述螺栓(11)的顶端为球面结构。 8.根据权利要求1所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述转向机构包括步进电机(12)、主动齿轮(13)和被动齿轮(14)，所述步进电机(12)通过连接杆(15)安装在所述实验箱体(1)的顶端，所述步进电机(12)的输出轴连接有第一转动轴(16)，所述主动齿轮(13)通过上下对称的安装板(17)安装在所述第一转动轴(16)上，所述安装板(17)铰接有联动杆(18)，所述联动杆(18)的末端固设有第二转动轴(19)，所述被动齿轮(14)安装在所述第二转动轴(19)上且与所述主动齿轮(13)啮合。 9.根据权利要求8所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述第二转动轴(19)的末端连接有三个分支杆(1901)，所三个所述分支杆(1901)均连接有屏蔽箱(20)，所述屏蔽箱(20)底部设有镜头口(21)，所述高光谱设备(5)的镜头安装在所述镜头口(21)。 10.根据权利要求9所述的用于检测不同电场环境下全波段高光谱的实验装置，其特征在于：所述高光谱设备(5)为高光谱测试仪，三个所述屏蔽箱(20)内分别设有波段检测范围为400～1100nm、1100～1700nm和1700～2500nm的高光谱测试仪。
所属类别：	发明专利