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原文传递一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置

专利名称：	一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置
摘要：	本实用新型公开了一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置，包括自动测控系统、左导电头、直径测量组合、探针组合、长度测量探头、右导电头组合、支撑架、称重组合，所述自动测控系统用于控制整个装置以及数据处理；所述支撑架用于放置待测样品，所述左导电头和右导电头组合作为导电电极位于待测样品两侧，所述探针组合用于测量样品的电压降；所述称重组合，用于测量样品质量。本实用新型解决了行业内传统的碳材料物理性能测定方法的不足，解决了“数据孤岛”问题，建设大数据平台支撑，实现数据的实时汇总和统计。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京英斯派克科技有限公司
发明人：	陈洪;于明超;王振朝;李智辰;曹功武;李龙;方炯
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201822143064.3
公开号：	CN209542355U
代理机构：	中国有色金属工业专利中心
代理人：	李子健
分类号：	G01N9/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N9
申请人地址：	100000 北京市海淀区复兴路乙12号918室
主权项：	1.一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置，其特征在于，能同时进行体积密度及室温电阻率测定，包括自动测控系统（1）、左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），所述自动测控系统（1）用于控制左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），以及数据处理；所述支撑架（7）用于放置待测样品，所述左导电头（2）和右导电头组合（6）作为导电电极位于待测样品两侧，所述探针组合（4）用于测量样品的电压降；所述称重组合，用于测量样品质量。 2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的左导电头（2），安装于样品左侧，用于作为样品长度测量基准并作为导电电极。 3.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的直径测量组合（3），垂直安装于样品上方或下方，或水平位置，或与样品成一定角度位置。 4.根据权利要求3所述的测定装置，其特征在于，所述的直径测量组合（3）包含：直径测量探头，用于测量样品直径；动力装置，用于带动直径测量探头移动。 5.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述探针组合（4）包含探针、动力装置，所述探针，用于测量电压降，所述动力装置，用于带动探针移动。 6.根据权利要求5所述的测定装置，其特征在于，所述探针组合（4）为单组或多组，设置于样品周围。 7.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的长度测量探头（5），用于测量样品长度，设置在右导电头组合（6）上。 8.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的右导电头组合（6），安装于样品的右侧，用于作为导电电极；所述右导电头组合（6）包括：右导电头，用于作为导电电极，动力装置，用于带动右导电头组合（6）左右移动。 9.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的称重组合（8）安装于试样下方，包括：称重单元，用于称量样品质量；称量架，用于称重时支撑样品，并将重量传递至称重单元，动力装置，用于带动称重组合（8）上下移动。 10.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的称重组合（8）安装于试样上方，测量拉力或通过挂钩测量压力。
所属类别：	实用新型