专利名称: |
点阵结构的位姿对材料力学性能影响的研究方法及点阵材料 |
摘要: |
本发明公开了一种点阵结构的位姿对其力学性能影响的研究方法,其中,研究方法包括以下步骤:s1.准备多种不同单胞位姿的点阵材料;s2.对所述点阵材料进行静态压缩实验,并从实验结果中得到的对应点阵材料应力‑应变关系曲线;同时,本发明通过上述研究方法得到一种高强度点阵材料和高弹性点阵材料。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
重庆;50 |
申请人: |
重庆大学 |
发明人: |
柏龙;张俊芳;陈晓红;龚程;李鑫 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-06-14T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-29T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910513020.1 |
公开号: |
CN110389070A |
代理机构: |
重庆项乾光宇专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
高姜 |
分类号: |
G01N3/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
申请人地址: |
400044 重庆市沙坪坝区正街174号 |
主权项: |
1.点阵结构的位姿对材料力学性能影响的研究方法,其特征在于,包括以下步骤: s1.准备多种不同单胞位姿的点阵材料; s2.对所述点阵材料进行静态压缩实验,并从实验结果中得到的对应点阵材料应力-应变关系曲线。 2.根据权利要求1所述的点阵结构的位姿对材料力学性能影响的研究方法,其特征在于:步骤s1中,选取单胞为八面体结构的点阵材料,并设置单胞的对称轴与垂直方向具有不同的角度。 3.根据权利要求2所述的点阵结构的位姿对材料力学性能影响的研究方法,其特征在于:所述单胞的对称轴与垂直方向的角度选取0°、10°、20°、30°、40°与45°。 4.一种高强度点阵材料,其特征在于:其包括多个周期性重复排列的点阵单胞,所述点阵单胞的对称轴与垂直方向的夹角为40°。 5.一种高弹性点阵材料,其特征在于:其包括多个周期性重复排列的点阵单胞,所述点阵单胞的对称轴与垂直方向的夹角为20°。 |
所属类别: |
发明专利 |