详情

原文传递一种泵浦激光器芯片热传导响应特性的测试系统及测试方法

专利名称：	一种泵浦激光器芯片热传导响应特性的测试系统及测试方法
摘要：	本发明涉及泵浦激光器领域，具体涉及一种泵浦激光器芯片热传导响应特性的测试系统，包括：所述热传导测试装置包括承载或贴靠待测泵浦激光器芯片一端的制冷器，以及设置在待测泵浦激光器芯片另一端或热传导位置为最远处的温度传感器；驱动单元，输出可控电流控制制冷器工作；所述采样单元分别获取制冷器的状态信息及温度传感器的感应信息；处理单元测试泵浦激光器芯片的热传导响应特性。还涉及一种基于测试系统的测试方法。本发明通过泵浦激光器芯片热传导响应特性的测试系统，获取泵浦激光器芯片的热传导性能，从而测试泵浦激光器芯片的热传导响应特性；并且通过制冷器与温度传感器的摆放位置，精确获取其热传导响应特性，便于后续制造。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	昂纳信息技术(深圳)有限公司
发明人：	仝小贯;王皓
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201910775651.0
公开号：	CN110361417A
代理机构：	深圳市道臻知识产权代理有限公司
代理人：	陈琳;陈嘉琪
分类号：	G01N25/20(2006.01);G;G01;G01N;G01N25
申请人地址：	518000 广东省深圳市坪山区翠景路35号
主权项：	1.一种泵浦激光器芯片热传导响应特性的测试系统，其特征在于，包括：热传导测试装置，所述热传导测试装置包括承载或贴靠待测泵浦激光器芯片一端的制冷器，以及设置在待测泵浦激光器芯片另一端或热传导位置为最远处的温度传感器；驱动单元，所述驱动单元与制冷器连接，并输出可控电流控制制冷器工作；采样单元，所述采样单元分别与制冷器和温度传感器连接，分别获取制冷器的状态信息及温度传感器的感应信息；处理单元，根据采样单元的采用信息获取待测泵浦激光器芯片热传导的响应值，测试泵浦激光器芯片的热传导响应特性。 2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述制冷器水平放置，所述待测泵浦激光器芯片放置在制冷器上，所述温度传感器设置在待测泵浦激光器芯片的上端面。 3.根据权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于：所述制冷器为半导体制冷器。 4.根据权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于：所述温度传感器为热敏电阻。 5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述处理单元包括控制模块和PC端，所述控制模块、驱动单元和采样单元构成一测试板，所述控制模块控制测试板采集到的采用信息并发送至PC端，所述PC端根据采样单元的采用信息获取待测泵浦激光器芯片热传导的响应值，测试泵浦激光器芯片的热传导响应特性。 6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于：所述测试板还包括滤波单元，以对采用信息进行滤波。 7.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于：所述PC端包括一存储模块，以存储计算热传导的响应值的算法流程。 8.根据权利要求1或5所述的测试系统，其特征在于：还包括与待测泵浦激光器芯片连接的控制单元，所述控制单元控制待测泵浦激光器芯片在测试过程中工作。 9.根据权利要求1或5所述的测试系统，其特征在于：还包括与处理单元连接且显示软件图形化用户界面的显示单元。 10.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述待测泵浦激光器芯片为980nm泵浦激光器芯片。 11.一种基于测试系统的测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-10任一所述的测试系统中，包括步骤：驱动制冷器工作；采集制冷器的状态信息和温度传感器的感应信息；根据预设热传导响应值的算法流程，结合状态信息和感应信息，获取待测泵浦激光器芯片热传导的响应值，测试泵浦激光器芯片的热传导响应特性。 12.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：所述温度传感器为热敏电阻，所述测试方法的步骤包括：采集制冷器在上电过程的多个电压值，以及采集热敏电阻的多个电压值；获取数组最大电压值和最小电压值所形成平均电压值；以及，当制冷器的一电压值V1满足第N个电压值V2与其的差值大于平均电压值，确认电压值V2所在时间为制冷器的上电时刻T1；以及，当热敏电阻从一电压值V3开始，连续存在M个电压值均为上升趋势，且第M个电压值V4满足电压值V3与其的差值大于预设电压值，确认电压值V4所在时间为分界点T2；分别对取索引为T1至T2，以及T2至X-T2的时间段，进行曲线拟合，计算出两拟合曲线的交叉点，并作为热敏电阻的拐点Ct，且Ct—T1为热响应数据。
所属类别：	发明专利