专利名称: |
一种利用折线型锥形多模光纤级联无芯光纤结构测量折射率的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种利用折线型锥形多模光纤级联无芯光纤结构测量折射率的方法,具体测量折射率过程为:折线型锥形多模光纤级联无芯光纤作为传感头放置在室温环境中,为防止光纤弯曲,使用紫外胶将制备的传感头稳定水平地固定在玻片上,然后将传感头浸入不同浓度即不同折射率的NaCl水溶液中,记录传输光谱后,使用去离子水净化传感头,恢复空气中的原始光谱,然后将传感头浸入新的NaCl水溶液中,记录新的传输光谱,最终得到传输光谱的波长的变化与折射率的对应线性关系并依据该对应线性关系实现折射率的测量。本发明的传感器在低折射率范围内具有较高的灵敏度,能够在较宽的温度范围内精确测量周围微小的折射率变化。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
河南;41 |
申请人: |
河南师范大学 |
发明人: |
王芳;常钦;马涛;庞凯博;王旭;刘玉芳 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-08-30T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-29T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910817268.7 |
公开号: |
CN110389113A |
代理机构: |
新乡市平原智汇知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
周闯 |
分类号: |
G01N21/45(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
453007 河南省新乡市牧野区建设东路46号 |
主权项: |
1.一种利用折线型锥形多模光纤级联无芯光纤结构测量折射率的方法,其特征在于主要由半导体光放大器、折线型锥形多模光纤、无芯光纤和光谱分析仪构成折射率测量系统,其中从半导体光放大器发出的波长范围从1200-1700nm的宽带光依次通过输入单模光纤、折线型锥形多模光纤级联无芯光纤和输出单模光纤传输至光谱分析仪上,具体测量折射率过程为:折线型锥形多模光纤级联无芯光纤作为传感头放置在室温环境中,为防止光纤弯曲,使用紫外胶将制备的传感头稳定水平地固定在玻片上,然后将传感头浸入不同浓度即不同折射率的NaCl水溶液中,记录传输光谱后,使用去离子水净化传感头,恢复空气中的原始光谱,然后将传感头浸入新的NaCl水溶液中,记录新的传输光谱,最终得到传输光谱的波长的变化与折射率的对应线性关系并依据该对应线性关系实现折射率的测量。 |
所属类别: |
发明专利 |