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原文传递一种高通量自动化荧光免疫分析仪及其控制方法

专利名称：	一种高通量自动化荧光免疫分析仪及其控制方法
摘要：	本发明涉及一种高通量自动化荧光免疫分析仪及其控制方法，底座上架设平行于若干可调试样座的横向平移单元，在可调试样座底部设置加热单元，横向平移单元配合设置纵向平移单元，通过纵向平移单元带动退样单元和荧光检测单元完成试样培育后的检测和退样作业，以到位检测单元确保每一次试样座置入后的信息反馈和定位。本发明只用两套驱动即可以连续完成多个不同尺寸的试样的加温、检测和退样，试样可以无序进入试样座，到位检测机构可使整机适应不同长度的试样，所有的工作在横向平移单元覆盖的范围内完成，整机结构简单、便于调节、可靠性高、成本低，占用空间小，易于维护，是半自动金标、荧光检测设备的理想机构。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州和迈精密仪器有限公司
发明人：	叶树明;王以文;杨森
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201910704575.4
公开号：	CN110361528A
代理机构：	杭州赛科专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	郭薇
分类号：	G01N33/53(2006.01);G;G01;G01N;G01N33
申请人地址：	215163 江苏省苏州市苏州高新区科灵路78号
主权项：	1.一种高通量自动化荧光免疫分析仪，包括底座，其特征在于：所述底座上架设有横向平移单元；平行于所述横向平移单元的底座前端边缘横向分布设有若干可调试样座；任一所述可调试样座配合设有加热单元；对应所述若干可调试样座设有与横向平移单元配合纵向平移单元，所述纵向平移单元配合设有退样单元和荧光检测单元，所述纵向平移单元与横向平移单元的运动方向在水平面上垂直；任一所述可调试样座与横向平移单元间的底座上设有到位检测单元；所述横向平移单元、加热单元、纵向平移单元、退样单元、荧光检测单元和到位检测单元连接至控制器。 2.根据权利要求1所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：所述横向平移单元包括2个分别设于底座纵向两端部的支撑架，2个所述支撑架顶部架设有与底座平行的第一螺杆，所述第一螺杆的一端连接至第一电机的输出端，所述第一螺杆外套设有第一螺母；所述第一螺母与纵向平移单元配合设置。 3.根据权利要求2所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：平行于所述第一螺杆的支撑架后端设有第一导轨，所述第一螺母通过第一固定板连接至第一滑块，所述第一滑块与第一导轨配合设置；所述第一滑块与纵向平移单元配合设置。 4.根据权利要求1所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：所述纵向平移单元包括配合横向平移单元设置的第二固定板，所述第二固定板后端设有第二电机，所述第二电机的输出端连接至第二螺杆，所述第二螺杆外套设有第二螺母，所述第二螺母与荧光检测单元和退样单元分别配合设置；所述第二固定板朝向前端配合设有连接至控制器的扫描单元。 5.根据权利要求4所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：平行于所述第二螺杆的第二固定板底部设有第二导轨，所述第二螺母通过第二滑块与第二导轨配合设置。 6.根据权利要求4所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：所述第二螺母底部设有荧光检测单元；所述退样单元包括设于第二螺母前端的第三固定板，所述第三固定板底部朝前设有退样杆；所述退样杆的水平投影和荧光检测单元的水平投影间的距离大于0。 7.根据权利要求1所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：任一所述可调试样座包括左座和右座，所述左座和右座与底板间设有加热单元；对应左座和右座的所述加热单元顶部分别设有横向滑槽。 8.根据权利要求7所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：任一所述左座和/或右座上设有朝向底板前端的插扣，所述插扣与试样配合设置。 9.根据权利要求1所述的一种高通量自动化荧光免疫分析仪，其特征在于：所述到位检测单元包括可调定位板，所述可调定位板的后端设有与可调试样座一一对应的若干定位孔，定位孔后的所述可调定位板上与定位孔一一对应设有到位传感器；所述可调定位板配合设有若干凵型接触片，所述凵型接触片的后部贯穿定位孔设置且凵型接触片的后端面与到位传感器贴合设置，所述凵型接触片的中部顶面与可调定位板的底面贴合设置，所述凵型接触片的前部贴设于可调定位板的前端面且与可调试样座一一对应。 10.一种权利要求1~9之一所述的高通量自动化荧光免疫分析仪的控制方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：步骤1：安装到位检测单元，将对应设置的到位传感器和可调试样座一一对准，定位完毕；分析仪初始化，设置加热单元当前的工作温度；步骤2：第一电机和第二电机工作，分别带动第一螺母和第二螺母归位至靠近第一电机和第二电机的第一螺杆和第二螺杆的端部；步骤3：向任一可调试样座上放置试样，调节可调试样座直至试样底部与插扣扣合且到位传感器检测到试样到位；控制器控制当前可调试样座底部的加热单元开始加热，控制器计时；步骤4：第一电机工作，第一螺母和第一螺杆配合并到达当前置入的待培育的试样前；控制器控制扫描单元对试样进行扫描，扫描单元将扫描数据传输至控制器，生成当前试样的培育时间；步骤5：若任一试样的培育时间达到标准值，则进行下一步，否则，判断是否存在任一到位传感器检测到试样到位，若是，存在新的试样到位的试样座开始加热计时，返回步骤4，否则，重复步骤5；步骤6：第一电机工作，第一螺母和第一螺杆配合并到达完成培育的试样前；第一电机停止工作；步骤7：第二电机工作，第二螺母和第二螺杆配合，第二螺母带动荧光检测单元自试样的插入端向外进行扫描并退回，荧光检测单元将检测数据传输至控制器；步骤8：第一电机工作，第一螺母和第一螺杆配合运动直至退样杆正对当前试样的插入端；第一电机停止工作；若存在任一其他试样的培育时间达到标准值，则返回步骤6，否则，进行下一步；步骤9：第二电机工作，第二螺母和第二螺杆配合，第二螺母带动退样杆向前，退样杆将试样推出；步骤10：控制器分析检测数据；返回步骤5或停机。
所属类别：	发明专利