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原文传递 X射线检查装置

专利名称：	X射线检查装置
摘要：	本发明提供一种X射线检查装置，其可制作仅CT图像的再构成所需要的区域的X射线透视图像。图像获取部71从X射线检测器3中获取用于判定视场缺失区域的基准图像与成为修剪的对象的工件的图像。平均亮度值计算部72计算基准图像中的无视场缺失的图像的平均亮度值。视场缺失区域判定部73针对所拍摄的透视图像，将具有未满平均亮度值计算部72所计算的平均亮度值的阈值的亮度的像素判定为视场缺失区域。修剪图像获取部75从拍摄工件所得的图像中，获取视场缺失区域以外的X射线透视图像。再构成处理部8根据视场缺失区域以外的X射线透视图像，再构成CT图像。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	东芝IT·控制系统株式会社
发明人：	长野雅実;鹤祥司
专利状态：	有效
申请日期：	2018-03-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201880015777.1
公开号：	CN110383051A
代理机构：	北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人：	张晓霞;臧建明
分类号：	G01N23/046(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本东京新宿区西新宿六丁目24番1号
主权项：	1.一种X射线检查装置，是包括X射线的照射源、载置检查对象物的工作台、及接收透过了检查对象物的X射线并检测其透过图像的X射线检测器的X射线检查装置，其特征在于，包括：移位机构，使所述X射线检测器沿着X射线的光轴移动；控制部，对利用所述移位机构的所述X射线检测器的移动进行控制；图像获取部，从所述X射线检测器中获取用于判定视场缺失区域的基准图像与成为修剪的对象的检查对象物的图像；平均亮度值计算部，计算基准图像中的无视场缺失的图像的平均亮度值；视场缺失区域判定部，针对所拍摄的X射线透视图像，将具有未满所述平均亮度值计算部所计算的平均亮度值的阈值的亮度的像素判定为视场缺失区域；修剪图像获取部，从拍摄检查对象物所得的图像中，获取所述视场缺失区域判定部所判定的视场缺失区域以外的X射线透视图像作为修剪区域的图像；以及再构成处理部，根据所述修剪图像获取部所获取的修剪区域的X射线透视图像，再构成CT图像。 2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，包括边界修整部，所述边界修整部从拍摄检查对象物所得的图像中，对所述视场缺失区域判定部所判定的视场缺失区域与视场缺失区域以外的区域的边界进行修整。 3.一种X射线检查装置，是包括X射线的照射源、载置检查对象物的工作台、及接收透过了检查对象物的X射线并检测其透过图像的X射线检测器的X射线检查装置，其特征在于，包括：移位机构，使所述X射线检测器沿着X射线的光轴移动；控制部，对利用所述移位机构的所述X射线检测器的移动进行控制；图像获取部，从所述X射线检测器中获取用于判定视场缺失区域的基准图像与成为修剪的对象的检查对象物的图像；设定值获取部，读入用户事先输入的下述的数据； (1)X射线照射角(α) (2)检测器间距(mm/检测器通道) (3)基准焦点至检测器距离(L1) 基准照射范围计算部，根据由所述设定值获取部所获取的X射线照射角(α)与基准焦点至检测器距离(L1)，将基准焦点至检测器距离(L1)的照射范围作为基准照射范围(W1)来求出；拍摄位置照射范围计算部，根据由所述设定值获取部及所述基准照射范围计算部所获取的值，通过下述的式1来求出任意的焦点至检测器距离(L2)的照射范围(W2)；式1：想要求出的照射范围(W2)＝基准照射范围(W1)×(任意的焦点至检测器距离(L2)/基准焦点至检测器距离(L1)) 修剪区域计算部，通过下述的式2来计算所述拍摄位置照射范围计算部所求出的照射范围(W2)相当于检测器几通道，并求出修剪区域；式2：修剪区域＝任意的焦点至检测器距离中的照射范围(W2)/检测器间距(mm/检测器通道) 修剪图像获取部，从拍摄检查对象物所得的图像中，获取所述修剪区域计算部所计算的修剪区域的X射线透视图像；以及再构成处理部，根据所述修剪图像获取部所获取的修剪区域的X射线透视图像，再构成计算机断层扫描图像。 4.根据权利要求3所述的X射线检查装置，包括存储部，所述存储部将所述修剪区域计算部所求出的多个焦点至检测器距离的修剪区域与各焦点至检测器距离建立对应来存储，且修剪图像获取部对照检查对象物的拍摄部位的焦点至检测器距离从存储部中读出对应的修剪区域，并获取修剪区域的X射线透视图像。
所属类别：	发明专利