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原文传递土壤墒情测量方法及装置

专利名称：	土壤墒情测量方法及装置
摘要：	本公开涉及一种土壤墒情测量方法，包括：获取测量土壤的降雨参数；其中，降雨参数包括测量周期内每个测量时间段的累计降雨量；确定测量土壤的水分损失与补给参数；其中，水分损失与补给参数包括损失系数和补给系数；以及根据水分损失与补给参数和降雨参数，采用预设的测量公式，确定测量土壤的土壤水分含量；测量公式中包括测量土壤中任一土壤层的厚度。本公开的方法至少具有以下有益技术效果之一：通过获取土壤的损失系数、补给系数以及测量周期内每个测量时间段的累计降雨量，采用预设的测量公式能够确定任一土壤层的土壤水分含量，能够实现对连续深度土壤层的土壤墒情进行测量的目的。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国科学院遥感与数字地球研究所
发明人：	赵天杰;姬大彬;崔倩;王天星;李睿;张子谦;徐红新
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201910669210.2
公开号：	CN110376355A
代理机构：	北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	王焕
分类号：	G01N33/24(2006.01);G;G01;G01N;G01N33
申请人地址：	100000 北京市朝阳区安定门外大屯路甲20号北
主权项：	1.一种土壤墒情测量方法，包括：获取测量土壤的降雨参数；其中，所述降雨参数包括测量周期内每个测量时间段的累计降雨量；确定所述测量土壤的水分损失与补给参数；其中，所述水分损失与补给参数包括损失系数和补给系数；以及根据所述水分损失与补给参数和所述降雨参数，采用预设的测量公式，确定所述测量土壤的土壤水分含量；所述测量公式中包括所述测量土壤中任一土壤层的厚度。 2.根据权利要求1所述的土壤墒情测量方法，其中，确定所述测量土壤的水分损失与补给参数，包括：获取所述测量土壤的典型层的土壤水分含量；根据所述典型层的土壤水分含量和所述降雨参数，对所述测量公式进行参数率定，确定所述水分损失与补给参数。 3.根据权利要求2所述的土壤墒情测量方法，所述典型层为厚度为3cm、5cm、10cm、20cm或50cm的土壤层。 4.根据权利要求1所述的土壤墒情测量方法，其中，所述测量公式为：其中，θ为第n个测量时间点的土壤水分含量，θ0为初始含水量，η为损失系数，Z为土壤层的厚度，t0为初始测量时间点，tn为第n个测量时间点，γ为补给系数，n为测量周期内测量时间点的总数，Pi为第i个测量时间段的累计降雨量，ti为第i个测量时间点，ti-1为第i-1个测量时间点。 5.一种土壤墒情测量装置，包括：获取模块，被配置用于获取测量土壤的降雨参数；其中，所述降雨参数包括测量周期内每个测量时间段的累计降雨量；第一确定模块，被配置用于确定所述测量土壤的水分损失与补给参数；其中，所述水分损失与补给参数包括损失系数和补给系数；以及第二确定模块，被配置用于根据所述水分损失与补给参数和所述降雨参数，采用预设的测量公式，确定所述测量土壤的土壤水分含量；所述测量公式中包括所述测量土壤中任一土壤层的厚度。 6.根据权利要求5所述的土壤墒情测量装置，所述第一确定模块具体用于：获取所述测量土壤的典型层的土壤水分含量；根据所述典型层的土壤水分含量和所述降雨参数，对所述测量公式进行率定，确定所述水分损失与补给参数。 7.根据权利要求6所述的土壤墒情测量装置，所述典型层为厚度为3cm、5cm、10cm、20cm或50cm的土壤层。 8.根据权利要求5所述的土壤墒情测量装置，所述测量公式为：其中，θ为第n个测量时间点的土壤水分含量，θ0为初始含水量，η为损失系数，Z为土壤层的厚度，t0为初始测量时间点，tn为第n个测量时间点，γ为补给系数，n为测量周期内测量时间点的总数，Pi为第i个测量时间段的累计降雨量，ti为第i个测量时间点，ti-1为第i-1个测量时间点。 9.一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储一个或多个程序，其中，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器执行如权利要求1至5中任一项所述的方法。 10.一种计算机可读介质，其上存储有可执行指令，该指令被处理器执行时使处理器执行如权利要求1至5中任一所述的方法。
所属类别：	发明专利