原文传递
一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法
| 专利名称： | 一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法，包括：获得样品的束缚水饱和度Swi；根据所述Swi，获得所述样品的渗透损害率Dk；根据所述Dk，判定致密气储层水锁伤害程度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河北;13 |
| 申请人： | 中国地质大学(北京) |
| 发明人： | 赖枫鹏;蒋志宇;木卡旦斯·阿克木江 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-07-29T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-10-25T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910687018.6 |
| 公开号： | CN110376112A |
| 代理机构： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 刘杰 |
| 分类号： | G01N15/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 071000 河北省保定市竞秀区先锋街道时代路国贸大厦1806 |
| 主权项： | 1.一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法，其特征在于，包括： 获得样品的束缚水饱和度Swi； 根据所述Swi，获得所述样品的渗透损害率Dk； 根据所述Dk，判定致密气储层水锁伤害程度。 2.根据权利要求1所述的一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法，其特征在于，所述计算岩心样品的束缚水饱和度Swi包括： 测定所述样品加压饱和状态下的T2图谱T21； 测定所述样品干样时的核磁共振T2图谱T22； 根据所述T21和T22，获得样品的束缚水饱和度Swi。 3.根据权利要求2所述的一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法，其特征在于，所述根据所述T21和T22，获得样品的束缚水饱和度Swi包括： 分别作所述T21和T22的T2图谱累计孔隙率曲线图，获得T21累计曲线和T22累计曲线； 根据所述T21累计曲线和T22累计曲线，获得所述样品的束缚水饱和度。 4.根据权利要求3所述的一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法，其特征在于，所述根据所述T21累计曲线和T22累计曲线，获得所述样品的束缚水饱和度包括： 以所述T22累计曲线的信号幅度最大值为切点作水平切线，获得所述切线与所述T21累计曲线的交点； 根据所述交点，获得所述交点对应的弛豫时间T2c； 所述T2c左边的饱和样品核磁共振T2谱的面积与饱和样品核磁共振T2谱的总面积的比值为束缚水饱和度。 5.根据权利要求1所述的一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法，其特征在于，所述获得所述样品的渗透损害率Dk包括： Dk＝29.255*ln(Swi)-20.851 式中，Dk为渗透率损害率，Swi为束缚水饱和度。 6.根据权利要求1所述的一种评价致密气储层水锁伤害程度的方法，其特征在于，所述根据所述Dk，判定致密气储层水锁伤害程度是根据下表进行判断： 渗透损害率Dk，％ 水锁伤害程度 ≤5 无 5-30 弱 30-50 中等偏弱 50-70 中等偏强 ≥70 强 。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
