专利名称: |
一种火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统 |
摘要: |
本实用新型涉及一种火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,包括产生等离子体的火花放电结构和使所述等离子体发射出的光信号形成二维光谱图的二维色散分光系统。本实用新型的有益效果如下:以火花放电作为等离子体光源,采用二维色散分光系统进行分光,光谱仪波长覆盖较宽,光谱仪的灵敏度较高,可以实现对纯金属中微量元素进行定量分析。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国原子能科学研究院 |
发明人: |
郝小娟;邵少雄;吴继宗;张勇;王世功 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-10T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-08T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201920042230.2 |
公开号: |
CN209606326U |
分类号: |
G01N21/67(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
102413 北京市房山区新镇三强路1号院 |
主权项: |
1.一种火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,其特征在于:包括产生等离子体的火花放电结构和使所述等离子体发射出的光信号形成二维光谱图的二维色散分光系统,所述二维色散分光系统包括中阶梯分光光路和面阵CCD探测器;所述中阶梯分光光路采用C-T型光学结构,以中阶梯光栅作为主色散元件,棱镜作为辅助色散元件;所述光信号经过所述中阶梯分光光路后形成二维光谱图成像在面阵CCD探测器上。 2.如权利要求1所述的火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,其特征在于:所述中阶梯光栅采用离面准Littrow方式,把光信号按波长在垂直方向分开;棱镜采用双色散结构,把不同级次的光信号在水平方向上分开。 3.如权利要求2所述的火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,其特征在于:所述中阶梯分光光路的光学元件包括准直镜、棱镜、中阶梯光栅和聚焦镜;光线经过准直镜准直后经棱镜预色散后,投射至中阶梯光栅,色散后的光再次经棱镜色散后,经聚焦镜聚焦后成像于二维面阵CCD探测器上。 4.如权利要求3所述的火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,其特征在于:所述中阶梯分光光路的光学元件还包括反光镜组;所述光线投射至准直镜前先经过反光镜组。 5.如权利要求1-4任一所述的火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,其特征在于:所述火花放电结构包括含有待测元素的石墨碳棒或含有待测元素的金属样品、放电腔室、透镜和进光筒;所述放电腔室由火花台板、火花台和火花台底座构成;所述石墨碳棒设置于所述火花台板上;所述进光筒一端连接于所述放电腔室,另一端连接于安装有二维色散分光系统的二维色散中阶梯光学室;所述透镜设置在所述进光筒内。 6.如权利要求5所述的火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,其特征在于:所述放电腔室还连接有惰性气体供给装置。 7.如权利要求5所述的火花光源与二维中阶梯光路相结合的光谱分析系统,其特征在于:使所述石墨碳棒含有待测元素的方法为将含有待测元素的待分析溶液滴于石墨碳棒后烘干。 |
所属类别: |
实用新型 |