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原文传递气体分析仪

专利名称：	气体分析仪
摘要：	本发明公开了一种气体分析仪，包括：探针构件，其可附接到分析物气体流过的流动路径的流动路径壁；以及分析构件，其具有可拆卸地附接到位于基端的第一连接部分的第二连接部分。探针构件具有反射部分和在其中限定的用于引入分析物气体测量区域。分析构件具有发光部分和光接收部分。发光部分向测量区域照射测量光，反射部分反射入射在测量区域上的测量光，并且光接收部分接收由反射部分反射的测量光。探针构件具有窗口部分，该窗口部分将测量区域与基端侧的外侧隔离并传输测量光。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	横河电机株式会社
发明人：	松伟纯一
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201910242314.5
公开号：	CN110398474A
代理机构：	上海专利商标事务所有限公司
代理人：	陆嘉
分类号：	G01N21/39(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本东京
主权项：	1.一种气体分析仪，包括：探针构件，所述探针构件可附接到流动路径的流动路径壁，在所述探针构件的一部分通过设置在所述流动路径壁中的开口插入的状态下分析物气体流过所述流动路径；以及分析构件，所述分析构件具有可拆卸地连接到第一连接部分的第二连接部分，所述第一连接部分位于与插入所述流动路径的所述探针构件的方向相反的基端处，其中所述探针构件具有反射部分和在所述探针构件中限定的用于引入所述分析物气体的测量区域，所述分析构件具有发光部分和光接收部分，在所述分析构件安装到所述探针构件的状态下，所述发光部分朝向所述测量区域照射测量光，所述反射部分反射入射在所述测量区域上的测量光，并且所述光接收部分接收由所述反射部分反射的测量光，并且所述探针构件具有窗口部分，所述窗口部分将所述测量区域与所述基端侧的外侧隔离并传输测量光。 2.根据权利要求1所述的气体分析仪，还包括校准构件，所述校准构件具有可拆卸地连接到所述分析构件的所述第二连接部分的第三连接部分、校准反射部分和在所述校准构件中限定的用于引入所述校准气体的校准区域，其中，在所述校准构件安装到所述分析构件的状态下，所述发光部分朝向所述校准区域照射测量光，所述校准反射部分反射入射在所述校准区域上的测量光，并且所述光接收部分接收由所述校准反射部分反射的测量光。 3.根据权利要求2所述的气体分析仪，其中，所述校准构件还具有可拆卸地连接到所述探针构件的所述第一连接部分的第四连接部分，并且所述校准构件能够同时安装到所述探针构件和所述分析构件上。 4.根据权利要求3所述的气体分析仪，其中，所述分析构件具有分析窗口，所述分析窗口将所述发光部分和所述光接收部分与所述第二连接部分的外部隔离并且传输测量光。 5.根据权利要求4所述的气体分析仪，其中，所述分析窗口部分包括蓝宝石玻璃或硼硅酸盐玻璃。 6.根据权利要求4所述的气体分析仪，其中，在所述校准构件安装到所述分析构件的状态下，所述校准区域在从所述校准反射部分到所述分析窗口部分的区域上延伸。 7.根据权利要求6所述的气体分析仪，其中，所述分析构件形成有用于使所述校准区域与外部连通的第一连通孔，并且所述校准构件形成有用于使所述校准区域与外部连通的第二连通孔。 8.根据权利要求3所述的气体分析仪，其中，所述校准构件具有校准窗口部分，所述校准窗口部分将所述校准反射部分与所述第三连接部分侧的外部隔离并且传输测量光，并且所述校准区域在所述校准反射部分到所述校准窗口部分的区域上延伸。 9.根据权利要求8所述的气体分析仪，其中，所述校准构件形成有用于使所述校准区域与所述外部连通的第一连通孔，以及用于在所述校准区域的延伸方向上不同于所述第一连通孔的位置处将所述校准区域与所述外部连通的第二连通孔。
所属类别：	发明专利