专利名称: |
一种检测SF6电气设备中的HF气体的系统 |
摘要: |
本申请公开了一种检测SF6电气设备中的HF气体的系统,包括上位机、激光驱动器、半导体激光光源、光程池、激光探测器、探测器信号处理装置,激光驱动器用于驱动半导体激光光源发出预设波段且可调谐的激光,由半导体激光光源将激光输送至光程池中,还用于将第一电信号发送至上位机;激光探测器用于从光程池中获取激光剩余的光能量并发送至探测器信号处理装置,由探测器信号处理装置将其转换为第二电信号并发送至上位机;上位机用于根据第一电信号、第二电信号和朗伯‑比尔定律得到HF气体的浓度。本申请公开的上述技术方案,通过TDLAS技术对HF气体的浓度进行检测,以提高HF气体的检测精度和检测的响应速度,并实现现场在线测量。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
重庆;50 |
申请人: |
国网重庆市电力公司电力科学研究院 |
发明人: |
苗玉龙;王彦武;何永胜;侯雨杉;张施令;姚强;邱妮;杨华夏;宫林;赫树开 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-09-10T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-08T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910853919.8 |
公开号: |
CN110426371A |
代理机构: |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人: |
田媛媛 |
分类号: |
G01N21/39(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
401123 重庆市渝北区黄山大道中段80号 |
主权项: |
1.一种检测SF6电气设备中的HF气体的系统,其特征在于,包括上位机、激光驱动器、半导体激光光源、用于承载SF6电气设备中的被测气体的光程池、激光探测器、探测器信号处理装置,其中: 所述激光驱动器用于在所述上位机的控制下驱动所述半导体激光光源发出预设波段且可调谐的激光,并由所述半导体激光光源将所述激光输送至所述光程池中,所述激光驱动器还用于将所述激光在未被送入所述光程池时的光能量对应的第一电信号发送至所述上位机;其中,所述激光在经HF气体吸收后能产生特征吸收峰,且所述激光的光谱宽度小于所述HF气体的吸收谱线的展宽; 所述激光探测器用于从所述光程池中获取所述激光被所述HF气体吸收后剩余的光能量并发送至所述探测器信号处理装置,以由所述探测器信号处理装置将剩余的光能量转换为第二电信号并发送至所述上位机; 所述上位机用于根据所述第一电信号、所述第二电信号和朗伯-比尔定律得到所述HF气体的浓度。 2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述探测器信号处理装置包括: 与所述激光探测器相连、用于对所述激光探测器发送的剩余的光能量进行放大的前置放大器。 3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述探测器信号处理装置还包括: 与所述激光探测器相连的锁相放大器。 4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括: 与所述半导体激光光源相连、用于对所述半导体激光光源的温度进行控制的温度控制电路。 5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述半导体激光光源为DFB激光器。 6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括: 设置在所述半导体激光光源与所述光程池之间的光纤准直器。 7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括: 设置在所述光程池上的排气通道。 8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述激光的波长为1309.75nm-1310.45nm。 9.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述光程池的窗体为蓝宝石窗体。 10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,还包括: 分别设置在所述光程池的第一端和第二端的平面镜或弧面镜; 其中,所述光程池的第一端为所述激光进入所述光程池的一端,所述光程池的第二端为所述激光从所述光程池射出的一端。 |
所属类别: |
发明专利 |