专利名称: |
流体性状检测装置 |
摘要: |
流体性状检测装置(100)具备:检测部(10),其用于检测检测对象流体的电气特性;运算部(51),其用于运算检测对象流体的性状值;以及存储部(52),其存储由运算部(51)运算出的性状值。在存储部(52)中预先存储有由检测部(10)检测出的基准流体的电气特性来作为基准检测值,运算部(51)基于从检测对象流体的检测值减去基准检测值所得到的值来运算检测对象流体的性状值。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
KYB株式会社 |
发明人: |
吉田圭太郎 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-03-01T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-05T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201880018134.2 |
公开号: |
CN110418959A |
代理机构: |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
刘新宇 |
分类号: |
G01N27/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
日本东京都 |
主权项: |
1.一种流体性状检测装置,用于对检测对象流体的性状进行检测,所述流体性状检测装置具备: 检测部,其面向所述检测对象流体地进行配置,用于检测所述检测对象流体的电气特性; 运算部,其基于由所述检测部检测出的检测值来运算所述检测对象流体的性状值;以及 存储部,其存储由所述运算部运算出的所述性状值, 其中,在所述存储部中预先存储有由所述检测部检测导电率比所述检测对象流体的导电率小的基准流体的电气特性所得到的检测值来作为基准检测值, 所述运算部基于从由所述检测部输出的所述检测对象流体的所述检测值减去所述基准检测值所得到的值,来运算所述检测对象流体的所述性状值。 2.根据权利要求1所述的流体性状检测装置,其特征在于, 所述检测部具有对所述检测值进行放大处理的放大元件。 3.根据权利要求1所述的流体性状检测装置,其特征在于, 所述检测部具有暴露于所述检测对象流体的一对电极, 所述一对电极具有第一电极和第二电极,该第二电极与所述第一电极相向地配置,该第二电极的形状与所述第一电极的形状不同, 在所述一对电极暴露于所述检测对象流体的状态下,所述运算部基于在向所述第一电极施加了电压时由所述检测部检测出的所述检测对象流体的第一检测值来运算所述检测对象流体的第一性状值,所述运算部基于在向所述第二电极施加了电压时由所述检测部检测出的所述检测对象流体的第二检测值来运算所述检测对象流体的第二性状值。 4.根据权利要求3所述的流体性状检测装置,其特征在于, 在所述存储部中预先存储有第一基准检测值和第二基准检测值,其中,所述第一基准检测值是在所述一对电极暴露于所述基准流体的状态下向所述第一电极施加了电压时由所述检测部检测出的值,所述第二基准检测值是在所述一对电极暴露于所述基准流体的状态下向所述第二电极施加了电压时由所述检测部检测出的值, 在所述一对电极暴露于所述检测对象流体的状态下,在向所述第一电极施加了电压时,所述运算部基于从所述第一检测值减去所述第一基准检测值所得到的值来运算所述第一性状值,在向所述第二电极施加了电压时,所述运算部基于从所述第二检测值减去所述第二基准检测值所得到的值来运算所述第二性状值。 5.根据权利要求3所述的流体性状检测装置,其特征在于, 所述第一电极是圆柱状的棒状构件, 所述第二电极是以覆盖所述第一电极的外周的方式与所述第一电极同轴配置的筒状构件。 6.根据权利要求1所述的流体性状检测装置,其特征在于, 所述基准流体具有所述检测对象流体的导电率的1000分之1以下的导电率。 |
所属类别: |
发明专利 |