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原文传递一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法

专利名称：	一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法
摘要：	本发明公开了一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，包括以下步骤：(a)在轨道板上布置若干测点，沿测点将整块轨道板进行逐点敲击；(b)接收敲击轨道板后产生的冲击弹性波信号；(c)进行数列变换、频谱解析，提取轨道板底面的反射信号与自密实混凝土底面的反射信号；(d)根据轨道板底面反射能量均值、自密实混凝土底面反射能量均值的比值大小来判断脱空程度。本发明的目的在于提供一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，以解决现有技术中的检测方法中反射能量平均后峰值不明显、能量极值不能完全反应出真正的反射位置和重复性测试结果有差异的问题，实现提高检测结果的可靠性与重复性的目的。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	四川升拓检测技术股份有限公司
发明人：	吴佳晔;陈靓;刘涛;张益雄;杨森;邓立;刘秀娟;陈秀秀;王伟;杨玲
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-08T00:00:00+0800
申请号：	CN201910728432.7
公开号：	CN110426453A
代理机构：	成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	伍星
分类号：	G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	643000 四川省自贡市高新区板仓孵化大楼三楼301室
主权项：	1.一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤： (a)在轨道板上布置若干测点，沿测点将整块轨道板进行逐点敲击； (b)接收敲击轨道板后产生的冲击弹性波信号； (c)进行数列变换、频谱解析，提取轨道板底面的反射信号与自密实混凝土底面的反射信号； (d)根据轨道板底面反射能量均值、自密实混凝土底面反射能量均值的比值大小来判断脱空程度。 2.根据权利要求1所述的一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，其特征在于，步骤(c)中频谱解析采用最大熵法进行解析。 3.根据权利要求1所述的一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，其特征在于，所述步骤(d)包括： (I)设定轨道板上的切片范围x1～x2、对应的自密实混凝土的切片范围为X1～X2、采样间隔为T； (II)计算轨道板切片范围内的采集次数Δt1：计算轨道板底面反射能量均值m：其中mi为第i个采集点数在x1～x2切片范围内的能量值；n为总测点数； (III)计算自密实混凝土切片范围内的采集次数Δt2：计算自密实混凝土底面反射能量均值M：其中Mi为第i个采集点数在X1～X2切片范围内的能量值；n为总测点数。 4.根据权利要求3所述的一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，其特征在于：当m/M≤1时，判断轨道板和自密实混凝土中间为密实状态；当m/M＞1时，判断轨道板和自密实混凝土中间为脱空状态。 5.根据权利要求1所述的一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，其特征在于，给被测轨道板切片等值线图赋予明确状态，将脱空情况分为三类，用不同颜色分别表示该区域存在明显脱空、轻微脱空、质量良好。 6.根据权利要求5所述的一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，其特征在于，将各种颜色在整张切片等值线图中所占比例进行统计，得出明显脱空指数和疑似脱空指数。
所属类别：	发明专利