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用于测试点焊的相控阵列探头和方法
| 专利名称： | 用于测试点焊的相控阵列探头和方法 |
| 摘要： | 一种用于测试结构上的点焊的相控阵列探头系统和方法。所述相控阵列探头包括多个换能器并可以包括柔性延迟线。将所述相控阵列探头相对于所述点焊定位在所述结构上的第一位置。使用所述相控阵列探头的至少一个第一换能器向所述点焊生成并从所述点焊接收第一超声信号。处理所述第一接收到的超声信号以相对于所述点焊确定所述结构上的第二优化位置。使用所述相控阵列探头的第二换能器在所述第二优化位置处向所述点焊生成并从所述点焊接收第二超声信号。处理所述第二接收到的超声信号以确定所述点焊的特征尺寸。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 通用电气公司 |
| 发明人： | 托比亚斯·布鲁赫 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-03-13T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-08T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201880017845.8 |
| 公开号： | CN110431412A |
| 代理机构： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 美国纽约州 |
| 主权项： | 1.一种用于使用相控阵列探头来测试结构上的点焊的方法，所述方法包括： 将所述相控阵列探头相对于所述点焊定位在所述结构上的第一位置； 使用所述相控阵列探头的至少一个第一换能器向所述点焊生成第一生成的超声信号并从所述点焊接收第一接收到的超声信号； 处理来自所述相控阵列探头的所述至少一个第一换能器的所述第一接收到的超声信号，以相对于所述点焊确定所述结构上的第二优化位置； 使用所述相控阵列探头的第二换能器在所述第二优化位置处向所述点焊生成第二生成的超声信号并从述点焊接收第二接收到的超声信号；以及 处理来自所述相控阵列探头的所述第二换能器的所述第二接收到的超声信号，以确定所述点焊的特征尺寸。 2.如权利要求1所述的方法，其中所述相控阵列探头包括柔性延迟线，并且定位和重新定位所述相控阵列探头包括使用所述柔性延迟线将所述相控阵列探头联接到所述结构。 3.如权利要求1所述的方法，其中处理所述第二接收到的超声信号包括使用以下形式的等式其中： A(P)是在点P处的信号幅度； sij(t)是从换能器接收到的信号的信号矩阵，其中j(1 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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