原文传递
一种基于分形维数的散粒体几何组成特征评价方法
| 专利名称： | 一种基于分形维数的散粒体几何组成特征评价方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于分形维数的散粒体几何组成特征评价方法，(1)对散粒体的不同位置进行不同缩放比尺的拍摄；(2)对所拍摄的图片进行黑白处理，并用盒维数法计算分形维数；(3)利用在散粒体不同位置拍摄的不同缩放比尺的照片计算散粒体的分形维数平均值；(4)分形维数平均值越小，说明散粒体中的颗粒在空间中的延伸程度越差，因此散粒体颗粒越粗，其形态也越颀长；反之，分形维数平均值越大，散粒体颗粒越细，其颗粒形态也越浑圆。本发明不仅能同时考虑其颗粒大小分布和颗粒形态，还具有方便实际工程应用的特点；该评价方法的提出和使用对于提升采矿和水电工程的安全和经济效益具有重要意义。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 四川大学 |
| 发明人： | 周家文;鲁功达;杨兴国;李洪涛;徐昊;戚顺超 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-28T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-05T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910799348.4 |
| 公开号： | CN110411911A |
| 代理机构： | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 胡文莉 |
| 分类号： | G01N15/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号 |
| 主权项： | 1.一种基于分形维数的散粒体几何组成特征评价方法，其特征在于，包括以下步骤： (1)对散粒体的不同位置进行不同缩放比尺的拍摄； (2)对所拍摄的图片进行黑白处理，并用盒维数法计算分形维数； (3)利用在散粒体不同位置拍摄的不同缩放比尺的照片计算散粒体的分形维数平均值； (4)分形维数平均值越小，说明散粒体中的颗粒在空间中的延伸程度越差，因此散粒体颗粒越粗，其形态也越颀长；反之，分形维数平均值越大，散粒体颗粒越细，其颗粒形态也越浑圆。 2.根据权利要求1所述的一种基于分形维数的散粒体几何组成特征评价方法，其特征在于，步骤(2)中盒维数法计算分形维数，具体包括以下步骤： 假设长L宽W的二维图像中含有多个颗粒，以边长为a的正方形格子将图像分割成规格为(L/a)×(W/a)的正交格网； 设格网中含有颗粒的格子总数为N(a)，那么如果改变格子的边长a，使其在一定值域范围内变化，即为a1，a2，…，an，则得到相应的序列值N(a1)，N(a2)，…，N(an)； 将数据表示在双对数坐标系中，若ln(L/a)-lnN(a)曲线具有线性特征，就表明散粒体存在统计自相似性，即具有分形特征，该直线的斜率即为该散粒体的分形维数D。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
