专利名称: |
光学超分辨显微成像系统 |
摘要: |
本实用新型公开了一种光学超分辨显微成像系统,包括沿光路设置的光源、准直镜、激发滤光镜、光束整形器、扫描透镜、显微镜,其中,所述光源发射的光经过所述准直镜和所述激发滤光镜后形成准直的激发光;所述光束整形器将所述准直的激发光整形为环形平行光;所述扫描透镜将所述环形平行光聚焦在所述显微镜的成像平面上,以使所述样品发射荧光。本实用新型的光学超分辨显微成像系统,在常规的共聚焦成像系统的激发光路里加入光束整形器,将激发光由高斯光束整形为环形光束,使共聚焦成像系统对样品的照明,具有主光斑尺寸小于艾利斑、带有明显旁瓣特征,提高了图像分辨率。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京世纪桑尼科技有限公司 |
发明人: |
赖博 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-12-11T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-12T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201822073049.6 |
公开号: |
CN209624390U |
代理机构: |
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
史霞 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100083北京市海淀区大柳树富海中心2号楼4层408 |
主权项: |
1.光学超分辨显微成像系统,其特征在于,包括沿光路设置的光源、准直镜、激发滤光镜、光束整形器、扫描透镜、显微镜,其中, 所述光源发射的光经过所述准直镜和所述激发滤光镜后形成准直的激发光; 所述光束整形器将所述准直的激发光整形为环形平行光; 所述扫描透镜将所述环形平行光聚焦在所述显微镜的成像平面上,以使样品发射荧光。 2.如权利要求1所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,光束整形器与显微镜之间还设有二色分光镜,所述二色分光镜将所述样品发射的荧光从所述环形平行光光路分离; 在沿样品发射的荧光的光路上还设有发射滤光镜、聚焦透镜、设有针孔的针孔板、光电探测器; 所述发射滤光镜仅透过所述样品发射的荧光,截止其余波长的光; 所述聚焦透镜将所述样品发射的荧光聚焦于所述设有针孔的针孔板; 所述光电探测器将穿过所述设有针孔的针孔板的荧光转为电信号,并传至计算机并将所述电信号还原为图像。 3.如权利要求1所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,所述光束整形器包括沿光路依次设置的平凹锥透镜、平凸锥透镜、长焦距凸透镜、短焦距凸透镜或短焦距凹透镜,其中所述平凹锥透镜与平凸锥透镜的锥角相同。 4.如权利要求1所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,所述光束整形器包括沿光路依次设置的光空间调制器、长焦距凸透镜、短焦距凸透镜或短焦距凹透镜,其中,通过所述光空间调制器来改变所述环形平行光光束的直径。 5.如权利要求2所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,所述针孔直径等于或大于所述聚焦透镜对所述样品发射的荧光汇聚形成的光斑的直径。 6.如权利要求1所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,还包括移动机构,其可改变环形平行光扫描样品的角度,从而使样品被完全地、均匀地扫描。 7.如权利要求6所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,移动机构为位于二色分光镜后方的XY扫描振镜,通过XY扫描振镜的摆动使样品被完全地、均匀地扫描;或移动机构为三维平移台,通过所述三维平移台带动所述样品移动,以使所述样品被完全地、均匀地扫描。 8.如权利要求3所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,所述光束整形器还包括运动机构,所述运动机构可控制所述平凸锥透镜沿光轴前后移动,以改变所述环形平行光光束的直径。 9.如权利要求2所述的光学超分辨显微成像系统,其特征在于,所述光电探测器为单点光电探测器或面阵探测器。 |
所属类别: |
实用新型 |