专利名称: |
基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法 |
摘要: |
本发明涉及一种基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,对传输中透明材质的待测物分别进行明场照射和暗场照射,相机采用分时曝光的方式获取待测物表面的明场图像和暗场图像;在明场中提取出疑似缺陷后,转换至暗场中进行复判,无需在明场中设计复杂耗时的滤波处理,缩短整体运行时间;在明暗场图像中综合处理,通过暗场辅助达到区分缺陷和灰尘的判别,提高缺陷检出率;无需使用复杂的频域处理,缩短开发周期,易于开发人员后期维护;简化整体逻辑设计,缩短算法开发周期,提高算法运行效率,即提高AOI设备生产实际过程中的检测问题。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
征图新视(江苏)科技股份有限公司 |
发明人: |
都卫东;王岩松;左骏秋;吴健雄 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-10-10T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-12T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910956018.1 |
公开号: |
CN110441321A |
代理机构: |
常州品益专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
乔楠 |
分类号: |
G01N21/896(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
213161江苏省常州市武进区西太湖锦华路258-6号 |
主权项: |
1.一种基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,其特征在于包括如下步骤: (1)对传输中透明材质的待测物进行明场照射,相机采用分时曝光的方式获取待测物表面的明场图像;对传输中透明材质的待测物进行暗场照射,相机采用分时曝光的方式获取待测物表面的暗场图像; (2)对明场图像进行阈值分割,提取出所有白色特征区域,根据所需特征要求筛选出疑似缺陷区域;将上述白色特征区域中疑似缺陷区域映射到暗场图像中,在暗场图像对应的区域范围内进行阈值分割,根据所需特征要求进一步筛选出疑似缺陷区域,该疑似缺陷区域中呈现为白色特征的判定为灰尘或脏污,否则为缺陷; (3)对明场图像进行阈值分割,提取出所有黑色特征区域,根据所需特征要求筛选出疑似缺陷区域;将上述黑色特征区域中疑似缺陷区域映射到暗场图像中,在暗场图像对应的区域范围内进行阈值分割,根据所需特征要求进一步筛选出疑似缺陷区域,该疑似缺陷区域中呈现为白色特征的判定为灰尘或脏污,否则为缺陷; 其中,所述步骤(1)中的分时曝光具体为在很短的时间内,在明场照射和暗场照射的光源下严格按照时序依次高频亮起、熄灭,保证同一时刻同一相机只采集一个光源下的待测物成像。 2.根据权利要求1所述的基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤(2)和步骤(3)同时进行。 3.根据权利要求1所述的基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤(1)中还包括对传输中透明材质的待测物进行局部暗场照射,相机采用分时曝光的方式获取待测物表面的局部暗场图像。 4.根据权利要求3所述的基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,其特征在于:所述局部暗场照射为半暗场照射。 5.根据权利要求3所述的基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤(2)具体为:对明场图像进行阈值分割,提取出所有白色特征区域,根据所需特征要求筛选出疑似缺陷区域;将上述白色特征区域中疑似缺陷区域映射到局部暗场图像中,在局部暗场图像对应的区域范围内进行阈值分割,根据所需特征要求进一步筛选出疑似缺陷区域;将上述进一步筛选出的疑似缺陷区域映射到暗场图像中,在暗场图像对应的区域范围内进行阈值分割,根据所需特征要求再次筛选出疑似缺陷区域,该疑似缺陷区域中呈现为白色特征的判定为灰尘或脏污,否则为缺陷。 6.根据权利要求3所述的基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤(3)具体为:对明场图像进行阈值分割,提取出所有黑色特征区域,根据所需特征要求筛选出疑似缺陷区域;将上述黑色特征区域中疑似缺陷区域映射到局部暗场图像中,在局部暗场图像对应的区域范围内进行阈值分割,根据所需特征要求进一步筛选出疑似缺陷区域;将上述进一步筛选出的疑似缺陷区域映射到暗场图像中,在暗场图像对应的区域范围内进行阈值分割,根据所需特征要求再次筛选出疑似缺陷区域,该疑似缺陷区域中呈现为白色特征的判定为灰尘或脏污,否则为缺陷。 7.根据权利要求1或4或5所述的基于分时曝光图像综合的透明材质内部缺陷检测方法,其特征在于:所述所需特征包括面积、对比度、长宽比、宽或高。 |
所属类别: |
发明专利 |