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原文传递利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法

专利名称：	利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法
摘要：	本发明提供一种利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法，包括：将AFB1、AFB2纯品与聚乙烯粉末混合压片，采用太赫兹时域光谱系统分别获取压片样品在0.5‑2.5THz范围内的太赫兹光谱数据；先用平板介质模型计算出压片样品的折射率与吸收系数，再用有效介质模型计算出AFB1、AFB2纯品的折射率与介电常数，比较AFB1、AFB2压片样品的折射率与吸收系数以及纯品的折射率与介电常数，为待测样品中AFB1、AFB2的鉴定提供参考依据。本发明通过无损、非接触的测量能够表征黄曲霉毒素B1和B2宏观光学性质的物理量在太赫兹波段的精确数值，为该类样品的快速、无损检测与识别提供有效手段。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中央民族大学
发明人：	杨玉平;张成
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-16T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201910759697.3
公开号：	CN110455742A
代理机构：	北京路浩知识产权代理有限公司
代理人：	黄爽
分类号：	G01N21/3586(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100083北京市海淀区中关村南大街27号
主权项：	1.利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法，其特征在于，所述方法包括：先利用压片法分别将黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品与聚乙烯粉末按比例混合压片，采用太赫兹时域光谱系统分别获取压片样品在0.50-2.50THz范围内的太赫兹光谱数据；先利用平板介质模型分别计算出压片样品的折射率与吸收系数，再利用有效介质模型分别计算出目标成分黄曲霉毒素B1、B2的折射率与介电常数，然后，分析比较黄曲霉毒素B1、B2压片样品的折射率与吸收系数以及黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品的折射率与介电常数，为待测样品中黄曲霉毒素B1、B2的鉴定提供参考依据；最后，将黄曲霉毒素B1和B2粉末纯品替换成待测样品，按照上述方法对待测样品进行测定和鉴别。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，包括以下步骤： (1)分别取黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品与聚乙烯粉末按照1:10-40的质量比混合压片，压片厚度为1-3mm，得到压片样品； (2)利用太赫兹时域光谱系统，采用透射测量模式在氮气环境下采集没有样品时的太赫兹光谱数据作为参考信号，放入压片样品后在相同条件下分别采集压片样品太赫兹光谱数据作为样品信号，对时域光谱进行傅里叶变换，得到不同压片样品的振幅谱和位相谱；先利用平板介质模型分别计算出压片样品在0.5-2.5THz范围内的折射率与吸收系数：其中，式(1)为折射率计算公式，n(ω)-折射率，Φ(ω)-样品信号和参考信号傅里叶变换频谱比值的相位，c、ω、d分别表示光速、角频率和压片样品的厚度；式(2)为吸收系数计算公式，α(ω)-吸收系数，d-压片样品的厚度，ρ(ω)-样品信号和参考信号傅里叶变换频谱比值的振幅；再利用有效介质模型分别计算出目标成分黄曲霉毒素B1、B2在0.50-2.50THz范围内的折射率与介电常数：其中，式(3)为介电常数计算公式，ε-混合压片的介电常数，ε1-聚乙烯粉末的介电常数，ε2-黄曲霉毒素B1或B2的介电常数，f2-黄曲霉毒素B1或B2的体积因子；通过比较得出，在0.50-1.58THz范围内，黄曲霉毒素B1压片样品的吸收系数比黄曲霉毒素B2小，而在1.58-2.50THz范围内黄曲霉毒素B1压片样品的吸收系数比黄曲霉毒素B2大；在0.50-2.02THz范围内黄曲霉毒素B1压片样品的折射率比黄曲霉毒素B2小，而在2.02-2.50THz范围内黄曲霉毒素B1压片样品的折射率比黄曲霉毒B2大；进一步地，在0.50-2.02THz范围内黄曲霉毒素B1粉末纯品的折射率比黄曲霉毒素B2小，而在2.02-2.50THz范围内黄曲霉毒素B1粉末纯品的折射率比黄曲霉毒素B2大；在0.50-2.02THz范围内黄曲霉毒素B1粉末纯品的介电常数实部比黄曲霉毒素B2小，而在2.02-2.50THz范围内黄曲霉毒素B1粉末纯品的介电常数实部比黄曲霉毒素B2大； (3)用待测样品替换步骤(1)中的黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品，然后按照步骤(1)～(2)的方法对待测样品进行测定和鉴别。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述聚乙烯粉末的平均粒度≤10μm。 4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，步骤(1)中黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品与聚乙烯粉末按照1:20的质量比混合压片，压片厚度为1-3mm，得到压片样品的厚度分别为1.371mm、1.360mm。 5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，太赫兹时域光谱系统的测定条件为：20～25℃，相对湿度<10％。 6.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述的平板介质模型、有效介质模型采用软件著作权登记号为2017SR405226的太赫兹参数提取软件中的介质板、混合介质的模块程序。
所属类别：	发明专利