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原文传递 硅胶件透光检测治具
专利名称: 硅胶件透光检测治具
摘要: 本实用新型公开了一种硅胶件透光检测治具,包括测试座及遮光盖,所述测试座内设有容纳槽,容纳槽内设置有光源电路组件,所述光源电路组件包括电源、开关组件、电路板及设置于电路板上的灯珠,硅胶件位于电路板上方且所述灯珠发出的光射向硅胶件的相应的按键的底面,所述容纳槽的槽口通过遮光盖遮挡,且遮光盖上设有若干与硅胶件的按键对应的透光孔,所述按键嵌入该透光孔中。通过上述结构,只需将硅胶件覆盖于电路板上,然后关闭遮光盖,按键嵌入该透光孔中,在按键的内孔中灯珠就会发出发光,从而便于检测人员检测,上述结构简单易操作,极大方便了检测人员。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 中山世达模型制造有限公司
发明人: 李青龙;贺彦华;程喜;杨庆贵
专利状态: 有效
申请日期: 2018-12-26T00:00:00+0800
发布日期: 2019-11-15T00:00:00+0800
申请号: CN201822213749.0
公开号: CN209640249U
代理机构: 中山市铭洋专利商标事务所(普通合伙)
代理人: 邹常友
分类号: G01N21/958(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 528437广东省中山市火炬开发区环茂一路15号西座首层厂房
主权项: 1.硅胶件透光检测治具,其特征在于:包括测试座及遮光盖,所述测试座内设有容纳槽,容纳槽内设置有光源电路组件,所述光源电路组件包括电源、开关组件、电路板及设置于电路板上的灯珠,硅胶件位于电路板上方且所述灯珠发出的光射向硅胶件的相应的按键的底面,所述容纳槽的槽口通过遮光盖遮挡,且遮光盖上设有若干与硅胶件的按键对应的透光孔,所述按键嵌入该透光孔中。 2.根据权利要求1所述的硅胶件透光检测治具,其特征在于:所述硅胶件放置于电路板上且所述灯珠嵌入按键的内孔中。 3.根据权利要求1所述的硅胶件透光检测治具,其特征在于:所述测试座上设有若干用于给硅胶件定位的定位块。 4.根据权利要求1所述的硅胶件透光检测治具,其特征在于:所述遮光盖于测试座铰接,从而能够翻转。 5.根据权利要求1所述的硅胶件透光检测治具,其特征在于:所述测试座包括下座及上座,所述电源为电池,所述下座内设有电池仓,所述上座内设有通孔,所述容纳槽由电池仓及通孔构成。 6.根据权利要求1所述的硅胶件透光检测治具,其特征在于:所述开关组件包括弹性触片、金属片一和金属片二,所述金属片一与电源的电极连接,且金属片二与电路板连接,且电源的另一电极也与电路板连接,所述弹性触片能够受遮光盖的挤压而同时与金属片一和金属片二接触。 7.根据权利要求6所述的硅胶件透光检测治具,其特征在于:所述测试座上设有开关孔,所述开关组件位于该开关孔内,所述金属片一和金属片二位于开关孔的孔底且通过分隔片隔开,所述弹性触片一端卡固于开关孔内的缝隙中,且另一端位于开关孔外。
所属类别: 实用新型
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