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光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置
| 专利名称： | 光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，涉及一种质量检测装置，旨在解决现有技术中光盒与EVA薄膜的距离固定不变，将使得较厚的EVA薄膜在检测时因透光性不足而影响检测效果的技术问题，其技术方案要点是包括支撑架和光盒，支撑架上设有一对平行的支撑条，两支撑条的侧壁上对称的开设有滑槽，光盒的两侧对称的设有滑块，滑块滑动连接在滑槽内，光盒通过两侧的滑块滑动连接在滑槽内，自然状态下，滑块可稳定的位于滑槽内，以便于操作人员进行稳定的检测工作，当需要调整光盒与EVA薄膜的间距时，操作人员可通过滑动滑块以进行调整，操作方便，具有可调整光盒与EVA薄膜的间距，从而保障检测效果的优势。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 南京谷尚新材料科技有限公司 |
| 发明人： | 杨小林 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-22T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-15T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201822164989.6 |
| 公开号： | CN209640187U |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 211151江苏省南京市江宁区横溪街道陶吴工业集中区狮子路29号 |
| 主权项： | 1.一种光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，包括支撑架(1)和光盒(13)，其特征在于：所述支撑架(1)上设有一对平行的支撑条(14)，两所述支撑条(14)的侧壁上对称的开设有滑槽(20)，所述光盒(13)的两侧对称的设有滑块(2)，所述滑块(2)滑动连接在滑槽(20)内。 2.根据权利要求1所述的光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，其特征在于：所述光盒(13)的侧壁上开设有滑孔(22)，所述滑块(2)滑动连接在滑孔(22)内。 3.根据权利要求2所述的光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，其特征在于：所述滑孔(22)的侧壁上开设有操作槽(40)，所述滑块(2)的侧壁上设有操作杆(4)，所述操作杆(4)滑动连接在操作槽(40)内。 4.根据权利要求3所述的光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，其特征在于：所述滑孔(22)内设有弹簧(23)，所述弹簧(23)的两端分别抵接在滑孔(22)和滑块(2)上。 5.根据权利要求4所述的光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，其特征在于：所述滑槽(20)的侧壁上开设有若干供滑块(2)插入的插孔(21)。 6.根据权利要求5所述的光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，其特征在于：所述滑块(2)朝向插孔(21)的端面上设有磁铁一(31)，所述插孔(21)内设有与磁铁一(31)磁性相吸的磁铁二(32)。 7.根据权利要求6所述的光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，其特征在于：所述磁铁一(31)朝向磁铁二(32)的一端设有便于磁铁一(31)插入插孔(21)内的导向面(311)。 8.根据权利要求7所述的光盒可调节的EVA薄膜表观质量检测装置，其特征在于：所述操作杆(4)的侧面上开设有凹孔(41)。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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