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原文传递一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法

专利名称：	一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法
摘要：	本公开提供了一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法，包括：步骤S101：制备具有超疏水表面的受测试件，并将受测试件安装在等效滑移长度测量系统；步骤S102：设定等效滑移长度测量系统的参数，开启等效滑移长度测量系统；步骤S103：受测试件在自身平面内进行周期运动并带动流体产生Stokes层，测量Stokes层内的观测点的实际最大速度；步骤S104：由所述实际最大速度计算等效滑移长度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京大学
发明人：	段慧玲;李泽祥;刘晓超;吕鹏宇
专利状态：	有效
申请日期：	2019-09-04T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201910836043.6
公开号：	CN110455687A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	李坤
分类号：	G01N13/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N13
申请人地址：	100871北京市海淀区颐和园路5号
主权项：	1.一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法，其特征在于，包括：步骤S101：制备具有超疏水表面的受测试件，并将受测试件安装在等效滑移长度测量系统；步骤S102：设定等效滑移长度测量系统的参数，开启等效滑移长度测量系统；步骤S103：受测试件在自身平面内进行周期运动并带动流体产生Stokes层，测量Stokes层内的观测点的实际最大速度；步骤S104：由所述实际最大速度计算等效滑移长度。 2.如权利要求1所述的等效滑移长度测量方法，其特征在于，在步骤S101中，在平整的受测试件上通过喷涂或者打印微纳尺度多级结构等方式制备超疏水表面，将制备好的具有超疏水表面的受测试件安装到等效滑移长度测量系统。 3.如权利要求1所述的等效滑移长度测量方法，其特征在于，等效滑移长度测量系统的参数包括：振荡运动速度-时间曲线、振荡频率和位移幅值。 4.如权利要求2所述的等效滑移长度测量方法，其特征在于，受测试件的截面为平表面，其特征尺寸大于位移幅值的十倍以上。 5.如权利要求1所述的等效滑移长度测量方法，其特征在于，将受测试件中间站位处Stokes层内距离超疏水表面任意高度处的一个固定空间位置作为观测点。 6.如权利要求1所述的等效滑移长度测量方法，其特征在于，在步骤S104中，由实际最大速度得到速度幅值变化系数，由速度幅值变化系数得到等效滑移长度。 7.如权利要求6所述的等效滑移长度测量方法，其特征在于，对于简谐振荡运动曲线，根据公式u(y，t)\|Max＝αU0e-η，得到速度幅值变化系数；其中，U0e-η为试件表面无滑移条件下观测点所在高度处的最大速度；u(y，t)\|Max为实际最大速度；α为速度幅值变化系数。 8.如权利要求7所述的等效滑移长度测量方法，其特征在于，对于简谐振荡运动曲线，通过公式计算等效滑移长度，lb为滑移长度，或者通过查找速度幅值变化系数与等效滑移长度的对应关系表得到等效滑移长度；对于非简谐振荡，通过受测试件周期振荡的速度变化曲线，利用数值计算的方式来得到等效滑移长度。
所属类别：	发明专利