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原文传递超薄纳米晶带材宽度检测装置

专利名称：	超薄纳米晶带材宽度检测装置
摘要：	本实用新型公开了一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。当纠偏传感器检测到带材发生偏移时，PLC控制器控制气缸作用，收卷轴进行轴向移动进行调整，可以保证检测头检测的带材宽度为准确值。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	安徽;34
申请人：	安徽智磁新材料科技有限公司
发明人：	晋立丛;邓毕力;冯英杰;罗顶飞
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201920403554.4
公开号：	CN209668441U
代理机构：	北京挺立专利事务所(普通合伙)
代理人：	盛君梅
分类号：	B65H26/00(2006.01);B;B65;B65H;B65H26
申请人地址：	236000 安徽省阜阳市颍泉区阜阳循环经济园区周棚路82号
主权项：	1.一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，其特征在于：所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。 2.根据权利要求1所述的超薄纳米晶带材宽度检测装置，其特征在于：所述放卷机构还包括一个机架，导辊位于机架上，在机架上还设置一个竖直的安装板，放卷电机、放卷轴均位于安装板上，在机架上设置有气缸，气缸连接安装板用于推动安装板沿放卷轴轴向移动。 3.根据权利要求2所述的超薄纳米晶带材宽度检测装置，其特征在于：所述检测平台上设置有两个导辊，两个导辊位于同一高度上，检测头位于两个导辊之间，且检测头为多个。 4.根据权利要求2所述的超薄纳米晶带材宽度检测装置，其特征在于：所述检测平台上还设置有张紧辊，张紧辊的转轴两端设置竖直的弹簧，弹簧底部固定在检测平台上表面。
所属类别：	实用新型