专利名称: |
一种仪表玻璃防熔接线结构 |
摘要: |
一种仪表玻璃防熔接线结构,包括仪表玻璃,仪表玻璃包括中心区和渐变减薄区,中心区为仪表玻璃的中心区域,渐变减薄区为仪表玻璃的外沿区域,中心区与渐变减薄区采用渐进过渡连接,渐变减薄区的边沿最薄处厚度小于等于0.8mm。该结构通过玻璃厚度的渐变使得边缘的流动截面减小,降低玻璃边缘的流动速度,抵消了剪切热引起的流速差异,避免了熔接线的发生,解决了仪表无翻边玻璃的熔接线问题,提高了产品合格率,降低了生产成本。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
延锋伟世通电子科技(上海)有限公司 |
发明人: |
叶浩翔 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-02-21T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-22T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201920218698.2 |
公开号: |
CN209666854U |
代理机构: |
上海骁象知识产权代理有限公司 |
代理人: |
赵峰 |
分类号: |
B60K37/00(2006.01);B;B60;B60K;B60K37 |
申请人地址: |
200233 上海市徐汇区田林路192号1号楼201-27室 |
主权项: |
1.一种仪表玻璃防熔接线结构,包括仪表玻璃,其特征在于:所述仪表玻璃包括中心区和渐变减薄区,所述的中心区的周边由所述的渐变减薄区包围,所述渐变减薄区为所述仪表玻璃的外沿区域,在渐变减薄区,仪表玻璃的厚度逐渐变小,渐变减薄区的仪表玻璃外沿最薄处厚度小于或者等于0.8mm。 2.如权利要求1所述的仪表玻璃防熔接线结构,其特征在于:所述仪表玻璃上表面为弧面结构。 |
所属类别: |
实用新型 |