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一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置
| 专利名称： | 一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置，属于表面缺陷无损检测装置领域。针对目前的激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置存在图像的分辨率，检测效果不佳的问题，本实用新型提出了一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置，该装置主要包括：一个CCD相机、两个半导体泵浦激光器和两个滤光片，两个半导体泵浦激光器的波长分别为532nm和473nm，所发出的激光为线激光，两个滤光片的透过波长分别为532nm和473nm；使用473nm和532nm两个输出波长分别对图像采集。得到两个激光照射条件下的图像，最后通过计算机对两个图像进行合成，可以得到更好的图像分辨率，能够更好的提高图形分辨能力。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 吉林;22 |
| 申请人： | 吉林大学 |
| 发明人： | 孙成林;李业秋;门志伟;龚楠 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-03-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-19T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201920326641.4 |
| 公开号： | CN209656580U |
| 代理机构： | 长春吉大专利代理有限责任公司 |
| 代理人： | 李泉宏 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 130012 吉林省长春市前进大街2699号 |
| 主权项： | 1.一种双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置，其特征在于，该装置主要包括：一个CCD相机、两个半导体泵浦激光器和两个滤光片，两个半导体泵浦激光器的波长分别为532nm和473nm，所发出的激光为线激光，两个滤光片的透过波长分别为532nm和473nm； CCD相机和两个半导体泵浦激光器均安装在高温连铸坯生产线上方，两个半导体泵浦激光器分别安装在CCD相机两侧，两个半导体泵浦激光器可将激光照射于CCD相机正下方的高温连铸坯生产线上；CCD相机前安装有两个滤光片，两个滤光片采用活动安装方式，可在CCD相机前移动，移入或移出相机图像采集视野。 2.根据权利要求1所述的双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置，其特征在于，两个半导体泵浦激光器和CCD相机通过导轨固定安装在高温连铸坯生产线上方。 3.根据权利要求1或2所述的双波长激光辅助照明高温连铸坯表面缺陷无损检测装置，其特征在于，两个半导体泵浦激光器和CCD相机固定安装在一起。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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