专利名称: |
质谱分析装置和色谱质谱联用仪 |
摘要: |
能够执行MSn分析的质谱分析装置具备:存储部(41),其保存有包含多个MRM转变的MRM测定条件和将在该MRM测定条件下测定出的产物离子的强度设为质量峰的多MRM标准谱的数据;目标化合物输入接收部(42),其接收一个或多个目标化合物的输入;测定执行部(44),其从存储部(41)读取与一个或多个目标化合物分别对应的MRM测定条件,在该MRM测定条件下测定试样;多MRM实测谱制作部(45),其制作多MRM实测谱,所述多MRM实测谱是在以产物离子的质荷比为一轴的图表上以质量峰的形式表示通过测定试样所得到的产物离子的强度的谱;以及相似度计算部(47),其针对各个目标化合物求出多MRM实测谱与存储部(41)中保存的多MRM标准谱的相似度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
株式会社岛津制作所 |
发明人: |
安田弘之 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2017-03-23T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-26T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201780088879.1 |
公开号: |
CN110506205A |
代理机构: |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
刘新宇 |
分类号: |
G01N27/62(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
日本京都府 |
主权项: |
1.一种质谱分析装置,能够执行MSn分析,n为2以上的整数,所述质谱分析装置具备: 前级质量分离部,其从源自试样中包含的化合物的离子中选择具有规定的质荷比的离子作为前体离子;断裂部,其使由该前级质量分离部选择的前体离子断裂来生成产物离子;以及后级质量分离部,其对由该断裂部生成的产物离子进行质量分离, 所述质谱分析装置的特征在于,还具备: a)存储部,其针对多个化合物保存有MRM测定条件和多MRM标准谱的数据,所述MRM测定条件包含多个MRM转变,所述多个MRM转变各自为前体离子与产物离子的组,所述多MRM标准谱的数据为在以产物离子的质荷比为一轴的图表上以质量峰的形式表示通过执行该MRM测定条件所测定出的产物离子的强度的质谱; b)目标化合物输入接收部,其接收由用户进行的一个或多个目标化合物的输入; c)测定执行部,其从所述存储部读取与所述一个或多个目标化合物分别对应的MRM测定条件,在该MRM测定条件下测定所述试样; d)多MRM实测谱制作部,其制作多MRM实测谱,所述多MRM实测谱为在以产物离子的质荷比为一轴的图表上以质量峰的形式表示通过测定所述试样所得到的产物离子的强度的谱; e)相似度计算部,其针对所述一个或多个目标化合物中的每一个目标化合物求出所述多MRM实测谱与在所述存储部中保存的所述多MRM标准谱的相似度。 2.根据权利要求1所述的质谱分析装置,其特征在于, 所述多个MRM转变为前体离子和产物离子中的至少一者的质荷比不同的3种以上的MRM转变。 3.根据权利要求1所述的质谱分析装置,其特征在于, 所述多个MRM转变为前体离子和产物离子中的至少一者的质荷比不同的6种以上且16种以下的MRM转变。 4.根据权利要求1所述的质谱分析装置,其特征在于, 还具备f)谱显示部,该谱显示部显示所述一个或多个目标化合物的所述多MRM标准谱和所述多MRM实测谱。 5.一种色谱质谱联用仪,其特征在于, 除了具备根据权利要求1所述的质谱分析装置之外,还具备g)色谱仪,该色谱仪将所述试样中包含的化合物在时间上分离, 所述MRM测定条件还包含基于该MRM测定条件来测定所述试样的测定时间段的信息, 所述测定执行部在所述测定时间段内基于所述MRM测定条件重复执行所述试样的测定。 6.根据权利要求4所述的色谱质谱联用仪,其特征在于, 所述测定时间段包含:比该目标化合物从所述色谱仪洗脱的开始时间更早的时间段、或/和比该目标化合物从所述色谱仪洗脱的结束时间更晚的时间段。 7.根据权利要求5所述的色谱质谱联用仪,其特征在于, 还具备h)噪音去除谱制作部,该噪音去除谱制作部针对所述一个或多个目标化合物中的每一个目标化合物,进行如下处理:从在该目标化合物的保留时间段所获取的多MRM实测谱扣除在该目标化合物的保留时间外所获取的多MRM实测谱的数据。 |
所属类别: |
发明专利 |