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原文传递一种在线式测量设备及测量方法

专利名称：	一种在线式测量设备及测量方法
摘要：	本发明公开了一种在线式测量设备及测量方法，包括入料定位机构、图像采集机构、铜厚测试机构、Y轴移动机构、出料传送机构和控制台；图像采集机构包括视觉组件和光源组件；光源组件设置在入料定位机构的下方，用于对入料定位机构上传送的待测量的PCB板进行打光；视觉组件设置在入料定位机构的上方且位于光源组件的正上方，用于对入料定位机构上传送的待测量的PCB板进行图像采集；控制台用于对视觉组件采集的图像进行分析，并选取最佳测量点。本发明利用机器视觉智能选点替代了现有的人工手动选点，无需依赖操作人员的经验，可避免出现选错点或漏选点的情况，对PCB板的铜厚测试提供了有力的保障，从而能够保证PCB板的出货质量。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	广东正业科技股份有限公司
发明人：	吴鹏辉;胡孝楠;张也;李彬;王兴;陈列坤
专利状态：	有效
申请日期：	2019-09-19T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201910888393.7
公开号：	CN110487819A
代理机构：	北京集佳知识产权代理有限公司
代理人：	李赫
分类号：	G01N21/956(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区科技九路2号
主权项：	1.一种在线式测量设备，其特征在于，包括入料定位机构、图像采集机构、铜厚测试机构、Y轴移动机构、出料传送机构和控制台；所述控制台通过通讯线缆连接所述入料定位机构、图像采集机构、铜厚测试机构、Y轴移动机构和出料传送机构，用于控制各机构之间的协调运作；所述入料定位机构和出料传送机构在同一水平面按照作业工序依次设置；所述入料定位机构用于传送待测量的PCB板，并对待测量的PCB板进行整板定位；所述出料传送机构用于传送测量后的PCB板；所述图像采集机构包括视觉组件和光源组件；所述光源组件设置在所述入料定位机构的下方，用于对所述入料定位机构上传送的待测量的PCB板进行打光；所述视觉组件设置在所述入料定位机构的上方且位于所述光源组件的正上方，用于对所述入料定位机构上传送的待测量的PCB板进行图像采集；所述控制台还用于对所述视觉组件采集的图像进行分析，并选取最佳测量点；所述铜厚测试机构设置在所述入料定位机构和出料传送机构之间，用于移动至所述控制台选取的最佳测量点，并对待测量的PCB板的上、下端面的铜厚数据进行测量。 2.根据权利要求1所述的在线式测量设备，其特征在于，所述视觉组件包括CMOS相机、镜头和相机支架；所述镜头安装在所述CMOS相机上，且朝向所述光源组件的方向；所述CMOS相机固定在所述相机支架上。 3.根据权利要求1所述的在线式测量设备，其特征在于，所述铜厚测试机构包括上测试探头组件和下测试探头组件；所述上测试探头组件设置在所述入料定位机构和出料传送机构之间的上方且设置在所述Y轴移动机构上，可沿XYZ三轴进行移动，用于测量待测量的PCB板的上端面的铜厚数据；所述下测试探头组件设置在所述入料定位机构和出料传送机构之间的下方，可沿XZ两轴进行移动，用于测量待测量的PCB板的下端面的铜厚数据。 4.根据权利要求3所述的在线式测量设备，其特征在于，所述上测试探头组件包括若干个上测试探头和与若干个所述上测试探头驱动连接的XZ轴丝杆导轨。 5.根据权利要求3所述的在线式测量设备，其特征在于，所述下测试探头组件包括若干个下测试探头和与若干个所述下测试探头驱动连接的XZ轴丝杆导轨。 6.根据权利要求1所述的在线式测量设备，其特征在于，所述入料定位机构包括在同一水平面按照作业工序依次设置的入料定位机构和入料传送机构。 7.一种在线式测量方法，其特征在于，采用权利要求1～6任一项所述的在线式测量设备执行，所述方法包括：所述入料定位机构将待测量的PCB板往作业工序的方向传送，并在经过所述扫描选点机构后对待测量的PCB板进行整板定位；所述图像采集机构对整板定位后经过其下方的待测量的PCB板进行图像采集；所述控制台对采集的图像进行分析，并选取最佳测量点；所述上测试探头组件和下测试探头组件分别移动至选取的所述最佳测量点，并对待测量的PCB板的上、下端面的铜厚数据进行测量；所述出料传送机构将测量后的PCB板传送至下个作业工序。 8.根据权利要求6所述的在线式测量方法，其特征在于，所述控制台对采集的图像进行分析，并选取最佳测量点的步骤包括：所述控制台对采集的图像进行分析，获取所述图像中待测量的PCB板的定位点到平台边缘的距离；所述控制台根据获取的所述距离和预先构建的标准档中的相对坐标，计确定算出待测量的PCB板上的若干最佳测量点以及每个所述最佳测量点相对于平台的绝对坐标。 9.根据权利要求8所述的在线式测量方法，其特征在于，所述上测试探头组件和下测试探头组件分别移动至选取的所述最佳测量点，并对待测量的PCB板的上、下端面的铜厚数据进行测量的步骤包括：所述上测试探头组件和下测试探头组件分别移动至与所述绝对坐标对应的最佳测量点，并对待测量的PCB板的上、下端面的铜厚数据进行测量。 10.根据权利要求8所述的在线式测量方法，其特征在于，还包括；所述图像采集机构采集标准PCB板的标准图像；所述控制台对采集的所述标准图像进行遍历，找出所述标准图像中的全部可测量区域；所述控制台通过选点算法从全部所述可测量区域中筛选出若干最佳测量区域，并获取每个所述最佳测量区域的中心相对于板面坐标系的相对坐标，以预先构建标准档。
所属类别：	发明专利