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一种固态物质瞬态受热反应速度测量方法与系统
| 专利名称： | 一种固态物质瞬态受热反应速度测量方法与系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种固态物质瞬态受热反应速度测量方法与系统。测量方法包含以下步骤：(1)在不放置样品条件下让样品托盘进入高温反应环境，测量该过程中托盘质量记为空白测量曲线；(2)放置样品并让样品托盘进入高温反应环境，测量托盘和样品质量记为表观样品质量测量曲线；(3)由表观样品质量测量减去空白测量曲线得到实际样品质量曲线；(4)进行实际样品质量曲线滤波和平滑，将平滑后的曲线记为实际样品质量平滑曲线；(5)实际样品质量平滑曲线对时间求一阶导数，得到固态物质反应速度。该方法的特点在于模拟物质进入高温环境的过程，消除了高温环境内外气体密度差对测量结果的影响，准确获得固态物质瞬态受热反应速度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河北;13 |
| 申请人： | 华北电力大学(保定) |
| 发明人： | 陈亮;王春波 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-19T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910396349.4 |
| 公开号： | CN110470558A |
| 分类号： | G01N5/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N5 |
| 申请人地址： | 071000 河北省保定市莲池区永华北大街619号 |
| 主权项： | 1.一种固态物质瞬态受热反应速度测量方法，其特征在于包括以下步骤： (1)空白测量：建立稳定且含指定反应气体的高温反应环境，让空样品托盘进入高温反应环境，测量该过程中托盘质量记为空白测量曲线； (2)表观样品质量测量：放置样品并让样品托盘进入高温反应环境，测量托盘和样品质量记为表观样品质量测量曲线； (3)空白消除：由表观样品质量测量减去空白测量曲线得到实际样品质量曲线； (4)数据滤波和曲线平滑：对实际样品质量曲线进行数据滤波和曲线平滑，将平滑后的曲线记为实际样品质量平滑曲线； (5)反应速度计算：实际样品质量平滑曲线对时间求一阶导数，得到固态物质反应速度。 2.用于权利要求1所述固态物质瞬态受热反应速度测量方法的系统，其特征是：系统包含模拟高温环境模块、配气模块、质量测量模块、运动驱动模块、数据采集与处理模块。配气模块通过气体管道连接到模拟高温环境模块，为模拟高温环境模块的炉膛提供稳定流量和指定气氛的反应气体，模拟高温环境模块安装在运动驱动模块上，实现模拟高温环境模块与质量测量模块的接近和远离，从而实现质量测量模块中样品托盘进入和离开模拟高温环境模块的炉膛，样品托盘进入炉膛后质量测量模块自动开始样品质量测量，同时将质量数据上传数据采集与处理模块进行数据处理。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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