专利名称: |
导光结构及微流体光谱检测装置 |
摘要: |
本发明提供一种导光结构及微流体光谱检测装置,属于微流体技术领域,其可解决现有的光谱仪中的导光结构过于复杂,难以实现光谱仪产品的轻薄化和小型化的问题。本发明的导光结构,包括:准直光源、波导层、分光层和遮光层;准直光源位于波导层的一端,用于将其所出射的光线,按照预设角度准直入射至波导层;波导层用于将入射至其内的光线进行全反射传输;分光层包括多个光栅单元,用于将光线中不同波长的光线分离,并将同一波长的光线会聚;遮光层具有多个开口,开口位置与不同波长的光线中指定波长的光线会聚位置相同,用于将指定波长的光线取出,不同开口取出的光线的波长不同。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人: |
孟宪东;孟宪芹;王维;陈小川;凌秋雨 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-08-26T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-26T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910789952.9 |
公开号: |
CN110501296A |
代理机构: |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 |
代理人: |
柴亮;张天舒 |
分类号: |
G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |
主权项: |
1.一种导光结构,其特征在于,包括:准直光源、波导层、分光层和遮光层; 所述准直光源位于所述波导层的一端,用于将其所出射的光线,按照预设角度准直入射至所述波导层; 所述波导层用于将入射至其内的光线进行全反射传输; 所述分光层包括多个光栅单元,用于将所述光线中不同波长的光线分离,并将同一波长的光线会聚; 所述遮光层具有多个开口,所述开口位置与不同波长的光线中指定波长的光线会聚位置相同,用于将指定波长的光线取出,不同所述开口取出的光线的波长不同。 2.根据权利要求1所述的导光结构,其特征在于,所述光栅单元的光栅周期依次递增或依次递减。 3.根据权利要求1所述的导光结构,其特征在于,所述分光层位于所述波导层的入光侧;在所述分光层背离所述波导层的一侧设置有反射层。 4.根据权利要求1所述的导光结构,其特征在于,所述分光层位于所述波导层的出光侧。 5.根据权利要求4所述的导光结构,其特征在于,还包括:支撑结构;所述支撑结构位于所述分光层和所述遮光层之间。 6.根据权利要求1所述的导光结构,其特征在于,所述光栅单元的材料为光学介质材料。 7.根据权利要求1所述的导光结构,其特征在于,所述波导层具有多个凹槽,所述凹槽上设置有遮光材料,以形成所述分光层。 8.一种微流体光谱检测装置,其特征在于,包括如权利要求1-7任一项所述的导光结构。 9.根据权利要求8所述的微流体光谱检测装置,其特征在于,还包括:位于所述导光结构上的微流体检测结构; 所述微流体检测结构包括:位于相对设置的第一基板和第二基板上的第一疏水层和第二疏水层、位于所述第一疏水层和所述第二疏水层之间的微流体通道、及位于所述第二疏水层和所述第二基板之间的多个探测器件; 所述第一基板与所述导光结构中的所述遮光层共用; 所述探测器件与所述遮光层中的所述开口一一对应。 10.根据权利要求9所述的微流体光谱检测装置,其特征在于,还包括:信号分析处理单元; 所述信号分析处理单元与多个所述探测器件连接。 |
所属类别: |
发明专利 |