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原文传递 一种频域调制的光谱偏振检测系统及检测方法
专利名称: 一种频域调制的光谱偏振检测系统及检测方法
摘要: 本发明公开了一种频域调制的光谱偏振检测系统及检测方法,属于偏振测量的技术领域,所述系统中偏振态产生器、偏振态分析器由固定的双折射晶体和线偏振片组成,无需任何机电测控装置,减小了系统的体积和重量,具有灵活、紧凑、低成本、性能稳定等优势;系统中的数据处理模块将待恢复的光谱偏振数据投影到低维空间,减少了计算资源开销和时间,且在数据恢复时利用正则项增强了抗噪声性能,提高了系统的测量时间和在低信噪比下的偏振测量精度。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 北京理工大学
发明人: 李艳秋;周国栋;孙义钰;李建慧
专利状态: 有效
申请日期: 2019-08-20T00:00:00+0800
发布日期: 2019-11-29T00:00:00+0800
申请号: CN201910766902.9
公开号: CN110514598A
代理机构: 北京理工大学专利中心
代理人: 田亚琪;刘芳
分类号: G01N21/21(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 100081 北京市海淀区中关村南大街5号
所属类别: 发明专利
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