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一种非贵金属催化剂膜电极耐久性测试方法
| 专利名称： | 一种非贵金属催化剂膜电极耐久性测试方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种非贵金属催化剂膜电极耐久性测试方法，包括分别测试膜电极初始的极化曲线、欧姆阻抗与阴极催化层质子传导阻抗，然后对膜电极进行恒压放电的衰减测试，再测试膜电极衰减后的极化曲线、欧姆阻抗与阴极催化层质子传导阻抗，然后向膜电极通入干燥氮气吹扫，最后用电化学工作站测试膜电极氮气吹扫后极化曲线。本发明针对非贵金属催化剂膜电极，通过测试膜电极恒压放电衰减前后的极化曲线、欧姆阻抗与阴极催化层质子阻抗以及膜电极氮气吹扫前后的极化曲线，测试条件与膜电极测试条件相同，测试数据真实可靠。可以从活化极化、欧姆极化和传质极化三个角度全面进行膜电极耐久性测试，对非贵金属催化剂膜电极的开发具有重要意义。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海交通大学 |
| 发明人： | 章俊良;陈俊任;闫晓晖;韩爱娣;程晓静;柯长春;沈水云 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-28T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910803326.0 |
| 公开号： | CN110530954A |
| 代理机构： | 上海汉声知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 胡晶 |
| 分类号： | G01N27/416(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 200240 上海市闵行区东川路800号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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