专利名称: | 一种普克尔盒消光比检测装置 |
摘要: | 本实用新型的一种普克尔盒消光比检测装置,包括光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头,调质组件与第二偏振片处于光源的出射方向,且第二偏振片与光源的发射方向呈45度角设置,且反射镜设置在第二偏振片的上方以获取S偏振光,探头分别装设在第二偏振片和反射镜的输出端。本实用新型通过采用光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头相结合的结构,将普克尔盒放置在调质组件与第二偏振片之间,利用光源发射出测试光,经过调质组件进行调质后,进入普克尔盒中,分别利用第二偏振片和反射镜以获取P偏振光和S偏振光,并通过探头以获取P偏振光和S偏振光的幅值,从而以准确得到普克尔盒的消光比。 |
专利类型: | 实用新型 |
国家地区组织代码: | 湖北;42 |
申请人: | 武汉华族激光技术有限公司 |
发明人: | 郑煜 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2019-04-25T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-12-06T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201920570036.1 |
公开号: | CN209745803U |
代理机构: | 北京中济纬天专利代理有限公司 |
代理人: | 邓佳 |
分类号: | G01N21/21(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: | 430000 湖北省武汉市江夏区庙山经济开发区阳光大道紫昕工业园1#A厂房4层A |
所属类别: | 实用新型 |