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一种基于光散射场的颗粒物粒径分布测量方法及系统
| 专利名称： | 一种基于光散射场的颗粒物粒径分布测量方法及系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于光散射场的颗粒物粒径分布测量方法及系统，方法包括：将入射光射向待测环境中待测区域；采用曲面反射镜在入射光入射方向一侧收集该区域中所有颗粒在观测角度范围内的散射光信号；采用光学镜头对散射光信号整形处理，后采用光电转换器采集观测角度范围内每个角度对应的独立散射光信号；基于各角度散射光信号，通过反向推演计算得到颗粒物粒径分布。本发明仅采用曲面反射镜、光学镜头、光电转换器，结构简单，成本低，可实现观测角度范围内各角度散射光信号的独立采集，获得大范围高角分辨率的散射角谱，为粒径分布准确求解提供较多通道的散射光信号，在实现准确颗粒物粒径分布测量功能的同时，结构简单，成本较低，实用性强。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 华中科技大学 |
| 发明人： | 王殊;邓田;陈昂 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-30T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910815933.9 |
| 公开号： | CN110553955A |
| 代理机构： | 华中科技大学专利中心 |
| 代理人： | 曹葆青;李智 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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