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用于对试样进行热分析的测量装置和方法
| 专利名称： | 用于对试样进行热分析的测量装置和方法 |
| 摘要： | 本发明涉及用于对试样(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明设置成，该测量装置还具有在坩埚(10)和传感器(20)之间加入的垫片组件(30)，其具有接触坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30‑1)和接触传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30‑2)。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对试样(P)进行热分析的方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 德国;DE |
| 申请人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 发明人： | A·辛德勒 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-28T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-13T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910454019.6 |
| 公开号： | CN110568008A |
| 代理机构： | 北京市路盛律师事务所 |
| 代理人： | 张瑾;刘世杰 |
| 分类号： | G01N25/20(2006.01);G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 德国塞尔布 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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