原文传递
一种Mueller矩阵光谱的测量系统及其测量方法
| 专利名称： | 一种Mueller矩阵光谱的测量系统及其测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种Mueller矩阵光谱的测量系统，包括沿入射光线的入射方向依次设有光源、光纤、准直系统、旋转起偏器、第一延迟器、样品台、第二延迟器、Wollaston棱镜、光谱仪组。本发明还公开了一种Mueller矩阵光谱的测量方法，将全部16个Mueller矩阵元素光谱加载致三个不同的光谱通道，每个通道由包含了三个不同子通道，每个子通道的光谱强度均为穆勒矩阵元素光谱的线性叠加，通过旋转改变起偏器的透光轴至两个正交的方向，结合通道滤波与傅里叶变换可通过光谱仪获取的四个光谱强度复原出16个Mueller矩阵元素的光谱。本发明测量速率快，可操作性强。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安理工大学 |
| 发明人： | 权乃承 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910899494.4 |
| 公开号： | CN110579443A |
| 代理机构： | 西安弘理专利事务所 |
| 代理人： | 涂秀清 |
| 分类号： | G01N21/21(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
