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单色X射线的单晶/定向晶应力测量系统和测量方法
| 专利名称： | 单色X射线的单晶/定向晶应力测量系统和测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种单色X射线的单晶/定向晶应力测量系统和测量方法，测量系统中，多轴样品台包括沿X轴平移的X自由度、沿Y轴平移的Y自由度、沿Z轴平移的Z自由度、绕Z轴旋转的旋转自由度以及绕X轴和/或Y轴倾转的倾转自由度，样品台控制模块基于指令控制样品台的在其自由度上的运动，共心高调整模块基于样品表面位置发送指令到样品台控制模块使得样品表面处于共心高位置，控制单元发出指令到样品台控制模块使得处于共心高位置的样品表面旋转和倾转，以及调整X射线发生器X射线入射方向和采集模块的采集位置以采集衍射峰信号，计算模块基于衍射峰信号生成应力数据。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安交通大学 |
| 发明人： | 陈凯;沈昊;寇嘉伟;朱文欣 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-19T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-20T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910884183.0 |
| 公开号： | CN110596160A |
| 代理机构： | 北京中济纬天专利代理有限公司 |
| 代理人： | 覃婧婵 |
| 分类号： | G01N23/20(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 710049 陕西省西安市咸宁西路28号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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