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集成电路测试机台的完测品收集装置以及完测品收集方法
| 专利名称： | 集成电路测试机台的完测品收集装置以及完测品收集方法 |
| 摘要： | 一种集成电路测试机台的完测品收集装置，利用一纵长管子承接并容装由各测试机台的完测品出料口送出的完测集成电路，其包含有一管子换装机构，用以换装与完测品出料口相接的管子，且管子换装机构具有一将管子夹持成纵向倾斜状的管子夹载台，以及一管子推离机构，此管子推离机构具有将管子推离管子夹载台的承座，其中此承座具有推动管子的底面，与引导管子依一动线而重力滑离底面的侧壁面。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 发明人： | 施光华;杨伟源;陈金福 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2002-01-31T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN02103139.8 |
| 公开号： | CN1435364 |
| 代理机构： | 北京集佳专利商标事务所 |
| 代理人： | 王学强 |
| 分类号： | B65G49/07 |
| 申请人地址： | 台湾省新竹科学工业园区力行路16号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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