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一种糖膏颗粒粒度分析系统及分析方法
| 专利名称： | 一种糖膏颗粒粒度分析系统及分析方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种糖膏颗粒粒度分析系统及分析方法，首先制作糖膏颗粒样本，工业相机采集糖膏颗粒样本的图像，并将采集的结晶颗粒图像传送至控制器，控制器对接收的糖膏颗粒样本的图像进行畸变校正和去噪处理；对上步处理后的图像进行自适应阈值分割，得到糖膏颗粒的初始区域，采用距离变换、分水岭和阈值分割相结合的方法对粘连颗粒区域进行二次分割；对分割后的区域进行分类，识别晶体颗粒的状态是否正常，分别计算正常颗粒和不正常颗粒的周长、面积、粒径(包括周长径、面积径、长径、短径)等参数；统计分析结晶颗粒。该发明可以有效解决白砂糖生产中煮糖工艺流程下糖膏结晶状态的人工观测效率低、不可靠问题。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 齐鲁工业大学 |
| 发明人： | 刘峻玮;张凯丽;崔瑶瑶 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-06-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-20T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910560975.2 |
| 公开号： | CN110595959A |
| 代理机构： | 济南泉城专利商标事务所 |
| 代理人： | 尚久恒 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 250353 山东省济南市长清区大学路3501号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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