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原文传递一种方桥测试机上料机构

专利名称：	一种方桥测试机上料机构
摘要：	本实用新型公开了芯片检测领域内的一种方桥测试机上料机构，包括倾斜固定在机箱上的上料轨道，上料轨道出料端旁设置有旋转上料组件，上料组件用以将上料轨道内的待测芯片夹取送至检测工位进行检测，上料轨道旁设置有整形组件，整形组件用以调节待测芯片引脚，整形组件设置两组，分别为第一整形组件和第二整形组件，第一整形组件包括固定在上料轨道侧壁上的第一整形气缸，第一整形气缸的活塞杆上连接有条状整形爪，第二整形组件包括固定在上料轨道侧壁上的第二整形气缸，第二整形气缸的活塞杆上连接有叉状整形爪，本实用新型通过整形组件对待测芯片的引脚进行整形，提高检测时的测量精度，可用于方桥产品测试中。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	扬州爱迪秀自动化科技有限公司
发明人：	莫健;陆军;陈尔军;郭文;吉俊
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-24T00:00:00+0800
申请号：	CN201920518900.3
公开号：	CN209834983U
代理机构：	南京苏科专利代理有限责任公司
代理人：	陈栋智
分类号：	B65G47/90(2006.01);B;B65;B65G;B65G47
申请人地址：	225000 江苏省扬州市邗江区吉安南路158号
所属类别：	实用新型