专利名称: |
一种参考臂光路结构以及OCT成像系统 |
摘要: |
本发明属于光学相干层析技术领域,尤其涉及一种参考臂光路结构以及OCT成像系统。参考臂光路结构包括:第一振镜,供第一光束入射并向外偏振反射第一光束,第一振镜具有第一偏转状态以及第二偏转状态;平面反射结构,用于在第一振镜处于第一偏转状态时从第一振镜接收第一光束并向第一振镜反射第一光束;以及滤光反射结构,包括至少两个且层叠设置的滤光反射膜,各滤光反射膜分别用于向第一振镜反射位于预定波长区间的第一光束且不限制位于其它波长区间的第一光束透射,其中,任意相邻的两滤光反射膜呈预设距离设置,任意两滤光反射膜所反射的第一光束的波长区间均不相同。本发明通过设置多层滤光反射膜,可以实现了OCT成像系统的扫描深度的调节。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司 |
发明人: |
苏胜飞 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-10-29T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-12-31T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201911036363.X |
公开号: |
CN110631998A |
代理机构: |
深圳中一联合知识产权代理有限公司 |
代理人: |
郭雨桐 |
分类号: |
G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东 |
主权项: |
1.一种参考臂光路结构,用于与宽带光源、耦合器和样品臂光路结构配合使用,所述宽带光源发出源光束,所述耦合器用于将所述源光束分成入射所述参考臂光路结构的第一光束和入射所述样品臂光路结构的第二光束,其特征在于,所述参考臂光路结构包括: 第一振镜,供所述第一光束入射并向外偏振反射所述第一光束,所述第一振镜具有第一偏转状态以及第二偏转状态; 平面反射结构,用于在所述第一振镜处于所述第一偏转状态时从所述第一振镜接收所述第一光束并向所述第一振镜反射所述第一光束;以及 滤光反射结构,包括至少两个且层叠设置的滤光反射膜,各所述滤光反射膜在所述第一振镜处于所述第二偏转状态时均能从所述第一振镜接收所述第一光束并均向所述第一振镜反射所述第一光束,各所述滤光反射膜分别用于向所述第一振镜反射位于预定波长区间的所述第一光束且不限制位于其它波长区间的所述第一光束透射,其中,任意相邻的两所述滤光反射膜呈预设距离设置,任意两所述滤光反射膜所反射的所述第一光束的波长区间均不相同。 2.如权利要求1所述的参考臂光路结构,其特征在于:各所述滤光反射膜所对应的所述第一光束的波长区间沿所述第一光束的入射方向依次连续设置。 3.如权利要求1所述的参考臂光路结构,其特征在于:所述滤光反射结构还包括多个滤光反射片,任意相邻的两所述滤光反射膜之间均设置有一所述滤光放射片,且任意相邻的两所述滤光反射膜分别镀覆于同一所述滤光反射片的两侧表面。 4.如权利要求1所述的参考臂光路结构,其特征在于:各所述滤光反射膜所对应的所述波长区间的长度均相等。 5.如权利要求1所述的参考臂光路结构,其特征在于:各所述滤光反射膜依次等间距设置。 6.如权利要求1-5任意一项所述的参考臂光路结构,其特征在于:所述参考臂光路结构还包括第一准直透镜,所述第一准直透镜用于对入射所述第一振镜的所述第一光束进行准直。 7.一种OCT成像系统,用于对待测样品进行成像扫描,其特征在于,所述OCT成像系统包括:如权利要求1-6任意一项所述的参考臂光路结构、样品臂光路结构、宽带光源、耦合器以及光谱分析仪,所述宽带光源用于发出源光束,且所述源光束被所述耦合器分成第一光束和第二光束,所述第一光束入射所述参考臂光路结构,所述第二光束入射所述样品臂光路结构,所述光谱分析仪用于接收并分析从所述参考臂光路结构反射回的所述第一光束以及从所述样品臂光路结构反射回的所述第二光束。 8.如权利要求7所述的OCT成像系统,其特征在于:所述样品臂光路结构包括第二振镜以及聚焦透镜,所述第二光束入射所述第二振镜并经所述第二振镜偏转反射至所述聚焦透镜,以对所述待测样品进行成像扫描,所述第二振镜还用于从所述待测样品接收所述第二光束并将所述第二光束反射至所述光谱分析仪。 9.如权利要求8所述的OCT成像系统,其特征在于:所述第二振镜向第一方向和/或第二方向偏转所述第二光束,其中,所述第一方向与所述第二方向正交设置。 10.如权利要求8所述的OCT成像系统,其特征在于:所述样品臂光路结构还包括第二准直透镜,所述第二准直透镜用于对入射所述第二振镜的所述第二光束进行准直。 |
所属类别: |
发明专利 |