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原文传递测量岩石样本孔隙率的实验装置及操作方法

专利名称：	测量岩石样本孔隙率的实验装置及操作方法
摘要：	一种测量岩石样本孔隙率的实验装置及操作方法，它包括支撑架、滑动座、支板、样本盒和电磁铁组，通过在支撑架的底板上设置电磁铁组，通过在立柱上设置可垂直滑动定位的多个支板，通过在多个支板之间设置样本盒，由支板密封盒口，通过增加支板的数量增加样本盒的数量，通过垂直滑动支板调整测试距离。本发明克服了原岩石样本孔隙率测量时，不易密封，测试距离不可调的问题，具有结构简单，密封性能好，测试距离和测试样本的数量可调，适应性好，操作简单方便的特点。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	三峡大学
发明人：	刘杰;高素芳;孙涛;黎照;唐洪宇;王子明;占星;谢晓康;李洪亚;李远航;张瀚;何卓文
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-04T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910008826.5
公开号：	CN109682737A
代理机构：	宜昌市三峡专利事务所
代理人：	成钢
分类号：	G01N15/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	443002 湖北省宜昌市西陵区大学路8号
主权项：	1.一种测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：它包括支撑架（1）、滑动座（2）、支板（3）、样本盒（4）和电磁铁组（5）；所述滑动座（2）与支撑架（1）垂直滑动配合定位，支板（3）与滑动座（2）水平滑动连接，样本盒（4）位于支板（3）之间，磁流体（5）位于支撑架（1）底部；所述电磁铁组（5）与支板（3）之间通电时形成可变磁场。 2.根据权利要求1所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：所述支撑架（1）包括与底板（11）垂直连接的立柱（12），与立柱（12）水平连接的横梁（13），滑动座（2）与立柱（12）配合。 3.根据权利要求2所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：所述立柱（12）上设置T形结构的滑槽（14），位于滑槽（14）的两侧设置多个螺纹孔（15）。 4.根据权利要求2所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：所述滑动座（2）包括与固定板（21）一侧连接的滑轨（22），与另一侧连接的座体（23），以及位于固定板（21）两侧的螺钉（24）。 5.根据权利要求4所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：所述滑轨（22）为T形结构，与立柱（12）上的滑槽（14）滑动配合，螺钉（24）穿过固定板（21）与立柱（12）两侧的螺纹孔（15）连接定位。 6.根据权利要求1所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：所述支板（3）为平板，一侧设置有T形结构的滑块与滑动座（2）上座体（23）的水平滑槽滑动配合。 7.根据权利要求1所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：所述样本盒（4）为上端开口的中空透明筒体，底部设置开口朝下的吸附盘（41），筒壁设置刻度（42）。 8.根据权利要求1所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置，其特征是：所述电磁铁组（5）包括位于中空壳体内分布的多个独立的通电螺线管。 9.根据权利要求1~8任一项所述的测量岩石样本孔隙率的实验装置的操作方法，其特征是，它包括如下步骤： S1，电磁铁组安装，将电磁铁组（5）放置在底板（11）上，与上部的支板（3）垂直对应； S2，滑动座安装，将滑动座（2）的滑轨（22）插入立柱（12）上的滑槽（14）内，螺钉（24）紧固头的上侧面低于座体（23）水平滑槽的槽底； S3，支板安装，将支板（3）上T形结构的滑块插入滑动座（2）的座体（23）上的水平滑槽内，支板（3）沿立柱（12）两侧水平滑动配合，旋转螺钉（24）使紧固头的上侧面高于座体（23）水平滑槽的槽底，限制支板（3）脱出水平滑槽，此时，滑动座（2）可沿立柱（12）垂直滑动； S4，样本准备，将岩石样本放入到样本盒（4）内，灌入磁流体，磁流体漫过样本； S5，样本盒安装，将样本盒（4）底部的吸附盘（41）吸附在支板（3）上，样本盒（4）开口朝上的盒口与上一层支板（3）的底部接触封闭； S6，固定滑动座，将支板（3）沿立柱（12）向上滑动，螺钉（24）与立柱（12）上的螺纹孔（15）配合，支板（3）处于限位状态，不会沿立柱（12）滑动，保持与电磁铁组（5）在设定的间距内； S7，调整滑动座，旋松滑动座（2）上的螺钉（24），支板（3）可沿立柱（12）上下滑动，根据试验要求将样本盒（4）调整到与电磁铁组（5）在设定的距离范围内后，旋转螺钉（24）与立柱（12）上的螺纹孔（15）配合，支板（3）处于限位状态。
所属类别：	发明专利