专利名称: |
飞秒激光制备纤芯失配型FBG温度应变折射率测量方法 |
摘要: |
本发明公开飞秒激光制备纤芯失配型FBG温度应变折射率测量方法,其特征在于,包括如下步骤:1)基于电弧放电的光纤纤芯失配结构制备;2)基于飞秒激光的FBG制备;3)温度折射率传感测试系统测量,光纤传感器置于加热台表面,通过光纤环行器与光源、光纤传感分析仪相连接;光纤传感器置于加热台表面,利用其改变温度高低;通过胶头滴管将待测液体滴于传感区域,进行折射率传感测量;4)应变折射率传感测试系统测量,光纤传感器置于等强度梁表面,通过光纤环行器与光源、光纤传感分析仪相连接;利用其改变应变高低,通过胶头滴管将待测液体滴于传感区域,进行折射率传感测量。可避免电磁干扰,耐高温,可实现温度应变折射率同时测量。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京信息科技大学 |
发明人: |
祝连庆;张雯;何巍;董明利;娄小平;杜中伟;于明鑫 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-16T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-04-26T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910041909.4 |
公开号: |
CN109682779A |
代理机构: |
北京市科名专利代理事务所(特殊普通合伙) |
代理人: |
陈朝阳 |
分类号: |
G01N21/45(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100085 北京市海淀区清河小营东路12号 |
主权项: |
1.飞秒激光制备纤芯失配型FBG温度应变折射率测量方法,其特征在于,包括如下步骤:1)基于电弧放电的光纤纤芯失配结构制备; 2)基于飞秒激光的FBG制备; 3)温度折射率传感测试系统测量,光纤传感器置于加热台表面,通过光纤环行器与光源、光纤传感分析仪相连接;光纤传感器置于加热台表面,利用其改变温度高低;通过胶头滴管将待测液体滴于传感区域,进行折射率传感测量; 4)应变折射率传感测试系统测量,光纤传感器置于等强度梁表面,通过光纤环行器与光源、光纤传感分析仪相连接;利用其改变应变高低,通过胶头滴管将待测液体滴于传感区域,进行折射率传感测量。 2.根据权利要求1所述飞秒激光制备纤芯失配型FBG温度应变折射率测量方法,其特征在于,第一步,首先,将两段SMF-28单模光纤端面去除涂覆层,经酒精擦拭后切平单模光纤,放置于熔接机内熔接;采用纤芯对准方式,将单模光纤两端纤芯错位熔接后取出,设定单模光纤长度后,再次去除单模光纤端面涂覆层,并经酒精擦拭后切平,再放置于熔接机内,再次错位熔接,完成纤芯失配结构制备。 3.根据权利要求1所述飞秒激光制备纤芯失配型FBG温度应变折射率测量方法,其特征在于,第二步,将前一步骤制备的单模光纤纤芯失配结构放置于三维移动平台上;再将飞秒激光光斑聚焦至纤芯上,采用直写方式在纤芯失配结构和未失配结构上分别制备FBG传感器。 4.根据权利要求1所述飞秒激光制备纤芯失配型FBG温度应变折射率测量方法,其特征在于,第三步,光源采用波段范围为1520-1610nm的ASE光源。 5.根据权利要求1所述飞秒激光制备纤芯失配型FBG温度应变折射率测量方法,其特征在于,第三步,光谱分析设备使用Yokogawa公司的光谱分析仪,进行透射光谱的采集。 |
所属类别: |
发明专利 |