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一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法
| 专利名称： | 一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法。所述方法包括如下步骤：通过化学反应将引发剂键接到金芯片上；通过自由基聚合的方法将单体化学接枝到金芯片上，得到带有聚电解质刷的金芯片；将带有聚电解质刷的金芯片置于样品池中并用溶液浸泡；通过电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的联用，得在溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛频率。本发明采用联用电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的方法，通过在金芯片上接枝聚电解质刷，一方面可利用石英晶体微天平实时测量在不同氯化钠溶液中聚电解质刷薄膜的质量和粘弹性的变化，另一方面也可利用电化学工作站同步测量在不同溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院化学研究所 |
| 发明人： | 赵彬涛;杨京法;赵江 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2017-10-19T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-04-26T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710996554.5 |
| 公开号： | CN109682709A |
| 代理机构： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 关畅;王春霞 |
| 分类号： | G01N5/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N5 |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区中关村北一街2号 |
| 主权项： | 1.一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法，包括如下步骤： (1)通过化学反应，将引发剂键接到金芯片上； (2)通过自由基聚合的方法，将单体化学接枝到所述金芯片上，得到带有聚电解质刷的金芯片； (3)将所述带有聚电解质刷的金芯片置于样品池中并用溶液浸泡；通过电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的联用，即得在所述溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛频率。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤(1)中，所述化学反应为金原子与巯基之间的反应或金原子与双硫键之间的反应。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：步骤(1)中，所述引发剂为巯基十一烷基溴代异丙酸酯或巯基己烷基溴代异丁酸酯。 4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于：步骤(2)中，所述单体为苯乙烯磺酸钠、甲基丙烯酸或甲基丙烯酰氧乙基三甲基氯化铵。 5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于：步骤(3)中，所述溶液为氯化钠水溶液。 6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于：步骤(3)中，所述电化学工作站与所述石英晶体微天平电化学模块通过如下方式联用： 所述石英晶体微天平电化学模块的工作电极、对电极和参比电极分别与所述电化学工作站的工作电极、对电极和参比电极连接，所述石英晶体微天平电化学模块的工作电极为所述带有聚电解质刷的金芯片。 7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：步骤(3)中，通过测量介电损耗所在的峰值的位置，得到所述聚电解质刷内部离子对的松弛频率； 测量频率为0.1Hz～106Hz。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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