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原文传递一种波纹管检测方法

专利名称：	一种波纹管检测方法
摘要：	本发明实施例涉及超声波检测技术领域，尤其涉及一种波纹管检测方法。波纹管检测方法包括：在波纹管轴向方向，每隔第一检测距离，使用第一超声波探头沿波纹管周向检测一圈，检测第一周向检测回波；在波纹管轴向方向，使用第二超声波探头沿波纹管轴向连续检测，检测第一轴向检测回波；第一周向检测回波的高度大于预先获取的周向距离‑波幅曲线，判定第一周向检测回波对应的波纹管位置存在缺陷；第一轴向检测回波的高度大于预先获取的轴向距离‑波幅曲线，判定第一轴向检测回波对应的波纹管位置存在缺陷。本公开实施例所提供的技术方案，实现了波纹管缺陷的全面检测的效果。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河南;41
申请人：	润电能源科学技术有限公司
发明人：	靳峰;李世涛;李世铭;侯家绪;王志永
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-30T00:00:00+0800
申请号：	CN201811614872.1
公开号：	CN109696486A
代理机构：	北京品源专利代理有限公司
代理人：	孟金喆
分类号：	G01N29/44(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	450046 河南省郑州市郑东新区华能河南大厦
主权项：	1.一种波纹管检测方法，其用于检测波纹管的缺陷，其特征在于，波纹管检测方法包括：在波纹管轴向方向，每隔第一检测距离，使用第一超声波探头沿波纹管周向检测一圈，检测第一周向检测回波；在波纹管轴向方向，使用第二超声波探头沿波纹管轴向连续检测，检测第一轴向检测回波；第一周向检测回波的高度大于预先获取的周向距离-波幅曲线，判定第一周向检测回波对应的波纹管位置存在缺陷；第一轴向检测回波的高度大于预先获取的轴向距离-波幅曲线，判定第一轴向检测回波对应的波纹管位置存在缺陷。 2.根据权利要求1所述的波纹管检测方法，其特征在于，波纹管检测方法还包括：把第一超声波探头翻转第一角度，在检测试块轴向方向，每隔第一检测距离，使用第一超声波探头沿波纹管周向检测一圈，检测第二周向检测回波；把第二超声波探头翻转第二角度，在检测试块轴向方向，使用第二超声波探头沿波纹管轴向连续检测，检测第二轴向检测回波；第二周向检测回波的高度大于预先获取的周向距离-波幅曲线，判定第二周向检测回波对应的波纹管位置存在缺陷；第二轴向检测回波的高度大于预先获取的轴向距离-波幅曲线，判定第二轴向检测回波对应的波纹管位置存在缺陷。 3.根据权利要求1所述的波纹管检测方法，其特征在于：所述第一超声波探头为单晶片斜探头，第一超声波探头发射的超声波频率为1MHz～3MHz，第一超声波探头检测面为弧面，所述弧面轴向与第一超声波探头声束方向在一个平面上，所述弧面的弧度与所波纹管的弧面弧度一致；所述第二超声波探头为单晶片斜探头，第二超声波探头发射的超声波频率为1MHz～3MHz，第二超声波探头检测面为弧面，所述弧面轴向与第二超声波探头声束方向垂直，所述弧面的弧度与所波纹管的弧面弧度一致。 4.根据权利要求1所述的波纹管检测方法，其特征在于，所述周向距离-波幅曲线和轴向距离-波幅曲线的获取方法包括：把第一超声波探头放置在检测试块上，所述检测试块包括周向刻槽和轴向刻槽；在检测试块轴向方向，分别在距离周向刻槽距离为n×第一距离处检测周向刻槽第n回波，n为正整数；以周向刻槽第n回波减去第一分贝作为评定线，绘制周向距离-波幅曲线；把第二超声波探头放置在检测试块上与轴向刻槽的相对侧；在检测试块轴向方向，每隔第二距离，检测轴向刻槽回波；以轴向刻槽回波减去第二分贝作为评定线，绘制轴向距离-波幅曲线。 5.根据权利要求4所述的波纹管检测方法，其特征在于：所述第一距离为70mm～130mm，所述第二距离为18mm～22mm。 6.根据权利要求4所述的波纹管检测方法，其特征在于：所述第一分贝为5dB～7dB，所述第二分贝为5dB～7dB。 7.根据权利要求4所述的波纹管检测方法，其特征在于，所述把第一超声波探头放置在检测试块上，所述检测试块包括周向刻槽和轴向刻槽之前，还包括：使用第一超声波探头检测超声波在检测试块上的传播速度。 8.根据权利要求7所述的波纹管检测方法，其特征在于，所述使用第一超声波探头检测超声波在检测试块上的传播速度包括：在距离周向刻槽第三距离处检测刻槽第一回波，在距离周向刻槽第四距离处检测刻槽第二回波，在距离周向刻槽第五距离处检测刻槽第三回波，根据检测的刻槽第一回波、刻槽第二回波和刻槽第三回波的时间，标定超声波在检测试块上的传播速度。 9.根据权利要求7所述的波纹管检测方法，其特征在于：所述第三距离为150mm～250mm，所述第四距离为450mm～550mm，所述第五距离为250mm～350mm。 10.根据权利要求4所述的波纹管检测方法，其特征在于：以450mm～550mm处周向刻槽第n回波作为周向缺陷检测灵敏度；超声波探头放置在检测试块上与轴向刻槽的相对侧，并使超声波探头和轴向刻槽位于同一条直线上时，检测的轴向刻槽回波增益第三分贝作为轴向缺陷检测灵敏度，所述第三分贝为5dB～7dB。
所属类别：	发明专利