专利名称: |
用于形成压实粉末产品的方法和设备 |
摘要: |
一种用于形成压实粉末产品(100)的设备(1),包括粉末供应系统(5)和压实站(11)。发射器(18)发射具有预定发射强度(I0)的输入X射线束。输出检测器(20)检测表示经过粉末的X射线束的输出强度(I1)的输出参数。参考检测器(23)检测表示生成的X射线束的有效强度(I2)的参考参数。控制单元(24)被编程为借助于参考参数来补偿输出参数并生成表示检测的密度的控制信号(S1)并且借助于控制信号(S1)控制粉末供应系统(5)。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
意大利;IT |
申请人: |
伊莫拉SACMI机械合作公司 |
发明人: |
恩里科·乌尔塞拉;康拉德·楚申塔勒;多梅尼科·班比 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2017-09-14T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-03T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201780057142.3 |
公开号: |
CN109716114A |
代理机构: |
北京银龙知识产权代理有限公司 |
代理人: |
曾贤伟;许静 |
分类号: |
G01N23/12(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
意大利伊莫拉市 |
主权项: |
1.一种形成压实粉末产品的方法,包括以下步骤: a)将软质粉末物质(M)沉积在支撑台(3)上并将其输送到压实站(11); b)将所述软质粉末物质(M)压靠在所述支撑台(3)上,以获得所述压实粉末产品(100); c)在粉末的第一侧(19)上生成具有预定发射强度(I0)的输入X射线束; d)在所述粉末的与所述第一侧(19)相对的第二侧(21)上检测输出参数,所述输出参数表示经过所述粉末的X射线束的输出强度(I1); e)测量所述粉末的厚度,按照发射强度(I0)、输出强度(I1),以及所述粉末的厚度和类型,确定所述粉末的密度, 其特征在于,所述方法包括以下进一步的步骤: f)在所述粉末的所述第一侧(19)上检测表示所述生成的X射线束的有效强度(I2)的参考参数; g)使用所述参考参数补偿所述输出参数以确定所述粉末的所述密度; h)生成表示检测的密度的控制信号(S1)并使用所述控制信号(S1)控制沉积所述软质粉末物质的步骤。 2.根据权利要求1所述的形成压实粉末产品的方法,其中,通过对所述输出参数进行归一化以获得由所述输出参数和所述参考参数之间的比率给出的补偿参数,来执行补偿步骤g)。 3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,通过应用算法来执行所述补偿步骤g),所述算法按照依据所述参考参数确定的所述输入X射线束的有效硬度来操作。 4.根据前述权利要求中的一项或多项所述的方法,包括校准步骤,其中存储对于多个已知密度的粉末执行步骤c)-f)的多个参考参数和输出参数。 5.根据前述权利要求中的一项或多项所述的方法,其中步骤c)-f)在所述压实粉末产品上执行。 6.根据权利要求5所述的形成压实粉末产品的方法,包括使用控制信号(S2)控制压实所述软质粉末物质的步骤。 7.根据前述权利要求中的一项或多项所述的方法,其中步骤a)和b)连续地执行并且包括: 将所述软质粉末物质(M)连续地沉积在能够沿进给方向(4)滑动的支撑台(3)上,从而形成连续的粉末条带, 进给所述支撑台(3)以使其通过所述压实站(11),在所述支撑台(3)前进时,所述压实站(11)连续地操作以压实所述粉末,从而借助于滑动压实表面(13)来获得连续带形式的所述压实粉末产品。 8.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其中步骤a)和b)不连续地执行并且包括: 沉积软质粉末物质并且使用往复式压力机来将其压实。 9.根据前述权利要求中一项或多项所述的方法,其中在两个或更多个点重复步骤c)-f)以确定粉末密度轮廓。 10.一种用于形成瓷砖的方法,包括用于根据前述权利要求中一项或多项所述的用于形成压实粉末产品的方法。 11.一种用于形成压实粉末产品的设备(1),包括: 粉末供应系统(5),其被配置成在支撑台(3)上沉积软质粉末物质(M); 压实站(11),其被配置成接收所述软质粉末物质(M)并将其压靠在所述支撑台(3)上以获得压实粉末产品(100); 发射器(18),其安装在粉末的第一侧(19)上,并被配置成发射具有预定发射强度(I0)的输入X射线束; 输出检测器(20),其安装在所述粉末的与所述第一侧(19)相对的第二侧(21)上,并且被配置成检测表示经过所述粉末的所述X射线束的输出强度(I1)的输出参数; 测量装置(22),其被配置为测量所述粉末的厚度;以及 控制单元(24),可操作地连接到所述发射器(18)、所述输出检测器(23)和所述测量装置(22),并且被编程以按照所述发射强度(I0)、所述输出强度(I1)和所述粉末的所述厚度和类型,确定所述粉末的密度, 其特征在于,所述设备包括参考检测器(23),其安装在所述第一侧(19)上,并且被配置为检测表示生成的所述X射线束的有效强度(I2)的参考参数, 其中所述控制单元(24)可操作地连接到所述粉末供应系统(5)和所述参考检测器(23),并且被编程为借助于所述参考参数补偿所述输出参数并且生成表示所检测的密度的控制信号(S1)并且借助于所述控制信号(S1)控制所述粉末供应系统(5)。 12.根据权利要求11所述的设备,其中,所述参考检测器(23)位于未屏蔽所述输入X射线束并相对于所述输出检测器(20)偏移的位置。 13.根据权利要求11或12所述的设备,其中,所述控制单元(24)被编程为通过归一化所述输出参数以获得由所述输出参数和所述参考参数之间的比率给出的补偿参数来执行补偿。 14.根据权利要求11或12或13所述的设备,其中,所述控制单元(24)被编程为通过应用算法来执行补偿,所述算法按照所述输入X射线束的有效硬度进行操作,所述输入X射线束的所述有效硬度按照所述参考参数来确定。 15.根据权利要求11-14中的一项或多项所述的设备,其中所述发射器(18)被定位成在所述压实粉末产品上操作。 16.根据权利要求11-15中的一项或多项所述的设备,其中所述粉末供应系统(5)被配置为在支撑台(3)上连续操作,所述支撑台(3)能够在进给方向(4)上滑动,从而形成连续的粉末条带,并且其中所述压实站(11)包括滑动压实表面(13),以在所述支撑台(3)前进时连续压实所述粉末,以获得连续带形式的所述压实粉末产品。 17.根据权利要求16所述的设备,其中所述发射器(18)、所述输出检测器(20)和所述参考检测器(23)能够在横向于所述进给方向(4)的方向上移动,以确定粉末密度轮廓。 18.根据权利要求11-15中的一项或多项所述的设备,其中所述压实站包括在软质粉末物质上操作的往复式压力机。 19.一种用于形成瓷砖的设备,包括用于根据前述权利要求11-18中一项或多项所述的用于形成压实粉末产品的设备。 |
所属类别: |
发明专利 |