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原文传递基于超声相控阵技术的R角结构的缺陷的测量方法

专利名称：	基于超声相控阵技术的R角结构的缺陷的测量方法
摘要：	本发明公开了一种基于超声相控阵技术的R角结构的缺陷的测量方法。本发明的方法，包括以下步骤：制作R角对比试块；采用超声相控阵检测技术通过弧形阵列探头对各个R角对比试块进行扫描成像；根据扫描成像的结果，绘制TCG曲线；根据扫描成像结果针对各个深度的人工缺陷选择使得二者匹配的增益门槛值；根据扫描成像结果针对每个尺寸的人工缺陷，绘制缺陷沿R角结构展向的显示尺寸与缺陷埋设深度的曲线关系图；对待测R角结构进行扫描成像。本发明能够实现对实际零件的R角结构中的缺陷的精准的尺寸定量，保证出现在R角结构中任何深度的缺陷尺寸的测定结果都有较高的准确性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	中国商用飞机有限责任公司
发明人：	张继敏;于光;刘奎;王旭;刘卫平;肖鹏;周晖
专利状态：	有效
申请日期：	2017-10-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-03T00:00:00+0800
申请号：	CN201711026060.0
公开号：	CN109709206A
代理机构：	北京市金杜律师事务所
代理人：	苏娟;徐年康
分类号：	G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	200126 上海市浦东新区世博大道1919号
主权项：	1.一种基于超声相控阵技术的R角结构的缺陷的测量方法，其特征在于，其包括以下步骤：步骤一、制作多个系列的R角对比试块，每个系列的R角对比试块埋设一个尺寸的人工缺陷，每个系列中的各个R角对比试块中的人工缺陷分别埋设于多个不同的深度，所有R角对比试块具有和待测R角结构相同的R角结构并由相同材料制成；步骤二、采用超声相控阵检测技术通过弧形阵列探头对各个R角对比试块进行扫描成像，其中所述弧形阵列探头发出的声束可垂直到达所述R角对比试块的所述R角结构的整个表面；步骤三、根据步骤二中扫描成像的结果，绘制TCG曲线；步骤四、根据所述人工缺陷沿扫查轴方向的尺寸与所述扫描成像的结果中所述人工缺陷沿扫查轴方向的显示尺寸，针对各个深度的人工缺陷选择使得二者匹配的增益门槛值；步骤五、根据所述人工缺陷沿所述R角结构展向的尺寸与所述扫描成像的结果中所述人工缺陷沿所述R角结构展向的显示尺寸，针对每个尺寸的人工缺陷，绘制缺陷沿所述R角结构展向的显示尺寸与缺陷埋设深度的曲线关系图；步骤六、根据待测R角结构中的缺陷的埋设深度以及步骤四得到的针对各个深度的人工缺陷的增益门槛值设置扫描待测R角结构的特定增益门槛值，然后通过所述弧形阵列探头对待测R角结构进行扫描成像。 2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤六中，记录扫描成像所得结果所显示的所述缺陷沿扫查轴方向的尺寸作为所述缺陷的尺寸。 3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤六中，记录扫描成像所得结果所显示的所述缺陷沿待测R角结构展向的显示尺寸，并基于所述缺陷沿待测R角结构展向的显示尺寸以及待测R角结构中的缺陷的埋设深度，在步骤五得到的所述曲线关系图中寻找对应的坐标点，并基于所述坐标点确定所述缺陷沿待测R角结构展向的尺寸。 4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述扫描成像均为超声C扫描成像。
所属类别：	发明专利