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原文传递芯样级配分析装置及方法

专利名称：	芯样级配分析装置及方法
摘要：	本发明涉及一种芯样级配分析装置及芯样级配分析方法，该芯样级配分析装置包括底板本体和刻度网格。底板本体为透明板,所述底板本体用于覆盖芯样。刻度网格设置于所述底板本体的表面，所述刻度网格包括多个阵列排布且相互连接的网格单元。该芯样级配分析装置及方法能方便普通作业人员对芯样的级配进行分析，且分析效率高，分析误差小。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	广州肖宁道路工程技术研究事务所有限公司
发明人：	黄志勇;王钊栋;朱升晖;李伟雄;罗传熙;张肖宁;颜俊键;熊春龙;聂文;贺军;陈搏
专利状态：	有效
申请日期：	2019-02-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-10T00:00:00+0800
申请号：	CN201910144406.X
公开号：	CN109738341A
代理机构：	广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：	李丹
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	510000 广东省广州市天河区五山路371号之一主楼1908单元
主权项：	1.一种芯样级配分析装置，其特征在于，包括：底板本体，为透明板，所述底板本体用于覆盖芯样；刻度网格，设置于所述底板本体的表面，所述刻度网格包括多个阵列排布且相互连接的网格单元。 2.根据权利要求1所述的芯样级配分析装置，其特征在于，还包括加固框架，所述加固框架设于所述底板本体的边沿处。 3.根据权利要求1所述的芯样级配分析装置，其特征在于，所述网格单元为矩形网格单元，所述网格单元的边上的中点处设有标记线。 4.根据权利要求1至3中任一项所述的芯样级配分析装置，其特征在于，还包括贴附于所述底板本体的表面的保护膜，所述保护膜为可撕扯透明膜。 5.根据权利要求4所述的芯样级配分析装置，其特征在于，所述保护膜为至少两层，所述至少两层保护膜层叠贴附设置。 6.一种芯样级配分析方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测芯样并对待测芯样进行处理以得到第一测试表面和第二测试表面，第一测试表面与第二测试表面相交；使芯样级配分析装置覆盖于第一测试表面处；通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第一测试表面上的第一石料粒径r1，并根据第一石料粒径r1得到第一芯样级配；使芯样级配分析装置覆盖于第二测试表面处；通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的第二石料粒径r2，并根据第二石料粒径r2得到第二芯样级配；根据第一芯样级配和第二芯样级配获得待测芯样的测量级配。 7.根据权利要求6所述的芯样级配分析方法，其特征在于，还包括以下步骤：获取标准芯样的实际级配与使用芯样级配分析装置分析得到的标准芯样的测量级配之间的对应关系；在步骤根据第一芯样级配和第二芯样级配获得待测芯样的测量级配之后，还包括以下步骤：根据待测芯样的实际级配与测量级配之间的对应关系得到待测芯样的实际级配。 8.根据权利要求7所述的芯样级配分析方法，其特征在于，所述获取标准芯样的实际级配与使用芯样级配分析装置分析得到的标准芯样的测量级配之间的对应关系的步骤，包括以下步骤：获取m个标准芯样，m个标准芯样相对于同一筛孔孔径的通过率呈梯级分布；对标准芯样进行处理，以得到至少三个第一测试表面和至少三个第二测试表面；使芯样级配分析装置覆盖于标准芯样的第一测试表面处，通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算标准芯样的第一测试表面的第一标准石料粒径rO1，并根据第一标准石料粒径rO1得到第一标准芯样级配；使芯样级配分析装置覆盖于标准芯样的第一测试表面处，通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算标准芯样的第二测试表面的第二标准石料粒径rO2，并根据第二标准石料粒径rO2得到第二标准芯样级配；根据第一标准芯样级配和第二标准芯样级配得到标准芯样的测试级配；根据m个标准芯样的实际级配和测试级配拟合出实际级配与测试级配的关系式。 9.根据权利要求6至8中任一项所述的芯样级配分析方法，其特征在于，所述通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算测试表面上的第一石料粒径r1，并根据第一石料粒径r1得到第一芯样级配的步骤，具体包括以下步骤：通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第一测试表面上的各个石粒的第一石料粒径r1；根据第一测试表面上各个石粒的第一石料粒径r1估算各个石粒的第一石料面积A1；根据各个石粒的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒相对于第一预设筛孔孔径的通过率D1a；根据各个石粒的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a；得到待测样品的第一芯样级配，测试样品的第一芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D1a和第二预设筛孔孔径的通过率D2a；所述通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的第二石料粒径r2，并根据第二石料粒径r2得到第二芯样级配的步骤，具体包括以下步骤：通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的各个石粒的第二石料粒径r2；根据第二测试表面上各个石粒的第二石料粒径r2估算各个石粒的第二石料面积A2；根据各个石粒的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a1；根据各个石粒的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a2；得到待测样品的第二芯样级配，测试样品的第二芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D2a1和第二预设筛孔孔径的通过率D2a2。 10.根据权利要求6至8中任一项所述的芯样级配分析方法，其特征在于，所述获取待测芯样并对待测芯样进行处理以得到第一测试表面和第二测试表面，第一测试表面与第二测试表面相交的步骤，具体包括以下步骤：使用钻芯机钻取待测路面的芯样；沿与待测芯样的轴向方向垂直的方向切割待测芯样，得到的切割面为第一测试表面；沿与待测芯样的轴向方向平行的方向切割待测芯样，得到的切割面为第二测试表面。
所属类别：	发明专利