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原文传递一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置

专利名称：	一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置
摘要：	本发明公开了一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置。该检测装置包括由信号发生器、功率放大电路、激励线圈、激励铁芯构成的巴克豪森噪声激励装置，由直流激励电源、直流磁化线圈以及直流磁化铁芯构成的偏置直流磁场发生装置，由传感器、信号调理电路、数据采集卡和PC机构成的信号采集处理装置。在偏置直流磁化下，铁磁性部件内部缺陷会引起部件内部磁场发生变化，并导致缺陷处巴克豪森噪声信号幅值和形状发生变化，因此可利用该变化来表征部件内部缺陷。本发明主要应用于铁磁性部件的缺陷检测，在对部件进行弱磁化情况下即可实现较深内部埋藏缺陷的有效检测，检测灵敏度高、可靠性高，检测装置体积小、重量轻。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	四川大学
发明人：	伍剑波;刘成勇;王子涵;邱巧;夏慧;黄晓明
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-10T00:00:00+0800
申请号：	CN201910095836.7
公开号：	CN109738509A
分类号：	G01N27/82(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号四川大学
主权项：	1.一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，包括：由信号发生器、功率放大电路、激励线圈、激励铁芯构成的巴克豪森噪声激励装置，由直流激励电源、直流磁化线圈以及直流磁化铁芯构成的偏置直流磁场发生装置，由传感器、信号调理电路、数据采集卡和PC机构成的信号采集处理装置；其中信号发生器的输出连接功率放大电路的输入，功率放大电路的输出连接激励线圈，激励线圈缠绕在激励铁芯上，激励铁芯置于铁磁性部件上；直流激励电源给直流磁化线圈激励，直流磁化线圈绕于直流磁化铁芯上，直流磁化铁芯同样置于铁磁性部件上；传感器安装于激励铁芯内部，铁磁性部件表面，传感器输出连接信号调理电路的输入，信号调理电路的输出连接数据采集卡的输入，数据采集卡的输出连接PC机。 2.根据权利要求1所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，除传统巴克豪森检测装置外，新增偏置直流磁场发生装置用于施加偏置直流磁场使缺陷引起铁磁性部件内部磁场分布发生变化，并导致缺陷处巴克豪森噪声信号幅值和形状发生变化，从而实现部件内部缺陷检测。 3.根据权利要求1和2所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，所述的直流磁化线圈可以是多股线绕制而成，也可是单股线绕制而成，且线径不小于0.8mm。 4.根据权利要求1至4所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，所述的由直流磁化线圈和直流磁化铁芯构成的偏置直流磁场磁化器与由激励线圈和激励铁芯构成的巴克豪森噪声激励磁化器可以放在部件的同侧，也可放在部件的异侧。 5.根据权利要求1至5所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，所述的由激励线圈和激励铁芯构成的巴克豪森噪声激励磁化器应放在由直流磁化线圈和直流磁化铁芯构成的偏置直流磁场磁化器内部或者磁化影响范围之内。 6.根据权利要求1所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，所述的直流激励电源包括任何形式的可产生可调直流电流的装置。 7.根据权利要求1至7所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，偏置直流磁场发生装置应该使部件处于弱磁化状态，以使得缺陷产生明显差异的巴克豪森噪声信号幅值和形状变化。 8.根据权利要求1所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，所述的信号调理电路包括信号前置放大、信号滤波、信号后置放大模块，其中信号放大为微小信号放大模块，信号滤波为高通滤波或者带通滤波模块。 9.根据权利要求1所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，所述的数据采集卡最低采集频率不低于500k/s。 10.根据权利要求1至10所述的一种基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置，其特征在于，所述的基于偏置直流磁化磁巴克豪森噪声的缺陷检测方法及装置可以增加任何形式的移动装置，以实现缺陷的连续检测。
所属类别：	发明专利