专利名称: |
一种在线检测玻璃原片杂质的装置 |
摘要: |
本实用新型涉及玻璃原片的杂质检测的技术领域,公开了一种在线检测玻璃原片杂质的装置,包括用于放置待检测玻璃原片的玻璃原片传输台、用于发现玻璃原片的杂质并获取杂质的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质的坐标信息并控制水平滑台位移至正对杂质的位置的计算机滑台控制模块、与水平滑台固定连接的轮廓识别组件以及与轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块;轮廓识别组件用于获取低倍观测线阵所发现的玻璃原片的杂质的轮廓图像数据,计算机图像处理模块用于获得轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定;操作简单方便,检测效率高,检测效果好。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
广东中航特种玻璃技术有限公司 |
发明人: |
张振华;赖博渊;刘东阳;代干;程利志;唐迪 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-09-13T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-10T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821503616.0 |
公开号: |
CN208847670U |
代理机构: |
深圳市壹品专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
江文鑫;周婷 |
分类号: |
G01N21/94(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
516083 广东省惠州市大亚湾响水河工业园 |
主权项: |
1.一种在线检测玻璃原片杂质的装置,其特征在于,包括用于放置待检测玻璃原片的玻璃原片传输台、用于发现玻璃原片的杂质并获取杂质的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质的坐标信息并控制所述水平滑台位移至正对杂质的位置的计算机滑台控制模块、与所述水平滑台固定连接的轮廓识别组件以及与所述轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块;所述轮廓识别组件用于获取所述低倍观测线阵所发现的玻璃原片的杂质的轮廓图像数据,所述计算机图像处理模块用于获得所述轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定,当判定结果为特定杂质类型时,所述计算机图像处理模块记录该杂质点坐标信息。 2.如权利要求1所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置,其特征在于,所述轮廓识别组件包括激光束发射器以及用于接收所述激光束发射器发射出的激光束的高分辨率接收器,所述高分辨率接收器连接所述计算机图像处理模块。 3.如权利要求1所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置,其特征在于,所述轮廓识别组件包括位于玻璃原片一侧的高倍工业相机以及位于玻璃原片另一侧的透射光源,所述高倍工业相机连接所述计算机图像处理模块。 4.如权利要求1-3任意一项所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置,其特征在于,所述低倍观测线阵包括多个沿垂直于玻璃原片前进方向线性或前后错位排列的低倍工业相机以及用于照射玻璃原片的面光源,所述低倍工业相机以及面光源位于所述玻璃原片的同一侧。 5.如权利要求4所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置,其特征在于,所述低倍观测线阵的焦点在玻璃原片的厚度中心平面上。 6.如权利要求5所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置,其特征在于,所述低倍观测线阵的景深在玻璃原片的厚度中心平面上下至少四分之一厚度范围内。 |
所属类别: |
实用新型 |